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Artigo de periodico
Single-beam technique for ultrashort pulse characterization based on the nonlinear ellipse rotation signal (2023)
Moysés, Renato Mafra; Barbano, Emerson Cristiano ; Misoguti, Lino
Source: Journal of the Optical Society of America B. Unidade: IFSC
Subjects: ÓPTICA NÃO LINEAR, FOTÔNICA, DISPOSITIVOS ÓPTICOS
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
MOYSÉS, Renato Mafra e BARBANO, Emerson Cristiano e MISOGUTI, Lino. Single-beam technique for ultrashort pulse characterization based on the nonlinear ellipse rotation signal. Journal of the Optical Society of America B, v. 40, n. 6, p. 1518-1524, 2023Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1364/JOSAB.482484. Acesso em: 09 fev. 2026.
APA
Moysés, R. M., Barbano, E. C., & Misoguti, L. (2023). Single-beam technique for ultrashort pulse characterization based on the nonlinear ellipse rotation signal. Journal of the Optical Society of America B, 40( 6), 1518-1524. doi:10.1364/JOSAB.482484
NLM
Moysés RM, Barbano EC, Misoguti L. Single-beam technique for ultrashort pulse characterization based on the nonlinear ellipse rotation signal [Internet]. Journal of the Optical Society of America B. 2023 ; 40( 6): 1518-1524.[citado 2026 fev. 09 ] Available from: https://doi.org/10.1364/JOSAB.482484
Vancouver
Moysés RM, Barbano EC, Misoguti L. Single-beam technique for ultrashort pulse characterization based on the nonlinear ellipse rotation signal [Internet]. Journal of the Optical Society of America B. 2023 ; 40( 6): 1518-1524.[citado 2026 fev. 09 ] Available from: https://doi.org/10.1364/JOSAB.482484
Artigo de periodico
Measurement of the refractive index profile of waveguides using defocusing microscopy (2018)
Lages, Eduardo; Cardoso, Wilder; Almeida, Gustavo Foresto Brito; Siman, Lívia; Mesquita, Oscar; Mendonça, Cleber Renato ; Agero, Ubirajara; Sebastião Pádua
Source: Applied Optics. Unidade: IFSC
Subjects: ÓPTICA NÃO LINEAR, FOTÔNICA
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
LAGES, Eduardo et al. Measurement of the refractive index profile of waveguides using defocusing microscopy. Applied Optics, v. 57, n. 29, p. 8699-8704, 2018Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1364/AO.57.008699. Acesso em: 09 fev. 2026.
APA
Lages, E., Cardoso, W., Almeida, G. F. B., Siman, L., Mesquita, O., Mendonça, C. R., et al. (2018). Measurement of the refractive index profile of waveguides using defocusing microscopy. Applied Optics, 57( 29), 8699-8704. doi:10.1364/AO.57.008699
NLM
Lages E, Cardoso W, Almeida GFB, Siman L, Mesquita O, Mendonça CR, Agero U, Sebastião Pádua. Measurement of the refractive index profile of waveguides using defocusing microscopy [Internet]. Applied Optics. 2018 ; 57( 29): 8699-8704.[citado 2026 fev. 09 ] Available from: https://doi.org/10.1364/AO.57.008699
Vancouver
Lages E, Cardoso W, Almeida GFB, Siman L, Mesquita O, Mendonça CR, Agero U, Sebastião Pádua. Measurement of the refractive index profile of waveguides using defocusing microscopy [Internet]. Applied Optics. 2018 ; 57( 29): 8699-8704.[citado 2026 fev. 09 ] Available from: https://doi.org/10.1364/AO.57.008699

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