Measurement of the refractive index profile of waveguides using defocusing microscopy (2018)
- Authors:
- Autor USP: MENDONÇA, CLEBER RENATO - IFSC
- Unidade: IFSC
- DOI: 10.1364/AO.57.008699
- Subjects: ÓPTICA NÃO LINEAR; FOTÔNICA
- Keywords: Guided waves; Ultrafast lasers; Microscopy
- Agências de fomento:
- Language: Inglês
- Imprenta:
- Publisher place: Washington, DC
- Date published: 2018
- Source:
- Título do periódico: Applied Optics
- ISSN: 1559-128X
- Volume/Número/Paginação/Ano: v. 57, n. 29, p. 8699-8704, Oct. 2018
- Este periódico é de assinatura
- Este artigo NÃO é de acesso aberto
- Cor do Acesso Aberto: closed
-
ABNT
LAGES, Eduardo et al. Measurement of the refractive index profile of waveguides using defocusing microscopy. Applied Optics, v. 57, n. 29, p. 8699-8704, 2018Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1364/AO.57.008699. Acesso em: 19 set. 2024. -
APA
Lages, E., Cardoso, W., Almeida, G. F. B., Siman, L., Mesquita, O., Mendonça, C. R., et al. (2018). Measurement of the refractive index profile of waveguides using defocusing microscopy. Applied Optics, 57( 29), 8699-8704. doi:10.1364/AO.57.008699 -
NLM
Lages E, Cardoso W, Almeida GFB, Siman L, Mesquita O, Mendonça CR, Agero U, Sebastião Pádua. Measurement of the refractive index profile of waveguides using defocusing microscopy [Internet]. Applied Optics. 2018 ; 57( 29): 8699-8704.[citado 2024 set. 19 ] Available from: https://doi.org/10.1364/AO.57.008699 -
Vancouver
Lages E, Cardoso W, Almeida GFB, Siman L, Mesquita O, Mendonça CR, Agero U, Sebastião Pádua. Measurement of the refractive index profile of waveguides using defocusing microscopy [Internet]. Applied Optics. 2018 ; 57( 29): 8699-8704.[citado 2024 set. 19 ] Available from: https://doi.org/10.1364/AO.57.008699 - Pulsos ultracurtos no desenvolvimento de tecnologias emergentes
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Informações sobre o DOI: 10.1364/AO.57.008699 (Fonte: oaDOI API)
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| Tipo | Nome | Link | |
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