Measurement of the refractive index profile of waveguides using defocusing microscopy (2018)
- Authors:
- Autor USP: MENDONÇA, CLEBER RENATO - IFSC
- Unidade: IFSC
- DOI: 10.1364/AO.57.008699
- Subjects: ÓPTICA NÃO LINEAR; FOTÔNICA
- Keywords: Guided waves; Ultrafast lasers; Microscopy
- Agências de fomento:
- Language: Inglês
- Imprenta:
- Publisher place: Washington, DC
- Date published: 2018
- Source:
- Título: Applied Optics
- ISSN: 1559-128X
- Volume/Número/Paginação/Ano: v. 57, n. 29, p. 8699-8704, Oct. 2018
- Este periódico é de acesso aberto
- Este artigo NÃO é de acesso aberto
-
ABNT
LAGES, Eduardo et al. Measurement of the refractive index profile of waveguides using defocusing microscopy. Applied Optics, v. 57, n. 29, p. 8699-8704, 2018Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1364/AO.57.008699. Acesso em: 25 fev. 2026. -
APA
Lages, E., Cardoso, W., Almeida, G. F. B., Siman, L., Mesquita, O., Mendonça, C. R., et al. (2018). Measurement of the refractive index profile of waveguides using defocusing microscopy. Applied Optics, 57( 29), 8699-8704. doi:10.1364/AO.57.008699 -
NLM
Lages E, Cardoso W, Almeida GFB, Siman L, Mesquita O, Mendonça CR, Agero U, Sebastião Pádua. Measurement of the refractive index profile of waveguides using defocusing microscopy [Internet]. Applied Optics. 2018 ; 57( 29): 8699-8704.[citado 2026 fev. 25 ] Available from: https://doi.org/10.1364/AO.57.008699 -
Vancouver
Lages E, Cardoso W, Almeida GFB, Siman L, Mesquita O, Mendonça CR, Agero U, Sebastião Pádua. Measurement of the refractive index profile of waveguides using defocusing microscopy [Internet]. Applied Optics. 2018 ; 57( 29): 8699-8704.[citado 2026 fev. 25 ] Available from: https://doi.org/10.1364/AO.57.008699 - Two- and three-photon absorption properties of ZnS and Mn-doped ZnS quantum dots
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Informações sobre o DOI: 10.1364/AO.57.008699 (Fonte: oaDOI API)
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| Tipo | Nome | Link | |
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