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  • Source: Applied Physics Letters. Unidade: IF

    Subjects: DISPOSITIVOS ELETRÔNICOS, SEMICONDUTORES, POÇOS QUÂNTICOS

    Versão PublicadaAcesso à fonteDOIHow to cite
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    • ABNT

      BRUBACH, J. et al. Dopant vs free carrier concentrations in InAs/GaAs semiconductor quantum dots. Applied Physics Letters, 2025Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1063/5.0244331. Acesso em: 04 jan. 2026.
    • APA

      Brubach, J., Huang, T. -Y., Borrely, T., Greenhill, C., Walrath, J., Fedele, G., et al. (2025). Dopant vs free carrier concentrations in InAs/GaAs semiconductor quantum dots. Applied Physics Letters. doi:https://doi.org/10.1063/5.0244331
    • NLM

      Brubach J, Huang T-Y, Borrely T, Greenhill C, Walrath J, Fedele G, Yang Y-C, Zimmerman A, Goldman RS. Dopant vs free carrier concentrations in InAs/GaAs semiconductor quantum dots [Internet]. Applied Physics Letters. 2025 ;[citado 2026 jan. 04 ] Available from: https://doi.org/10.1063/5.0244331
    • Vancouver

      Brubach J, Huang T-Y, Borrely T, Greenhill C, Walrath J, Fedele G, Yang Y-C, Zimmerman A, Goldman RS. Dopant vs free carrier concentrations in InAs/GaAs semiconductor quantum dots [Internet]. Applied Physics Letters. 2025 ;[citado 2026 jan. 04 ] Available from: https://doi.org/10.1063/5.0244331
  • Unidade: IF

    Subjects: FÍSICA NUCLEAR, RADIAÇÃO ATMOSFÉRICA

    Acesso à fonteAcesso à fonteDOIHow to cite
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    • ABNT

      ALBERTON, Saulo Gabriel Pereira Nascimento. Reliability of power transistors in radiation environments. 2025. Tese (Doutorado) – Universidade de São Paulo, São Paulo, 2025. Disponível em: https://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/43/43134/tde-20052025-195023/. Acesso em: 04 jan. 2026.
    • APA

      Alberton, S. G. P. N. (2025). Reliability of power transistors in radiation environments (Tese (Doutorado). Universidade de São Paulo, São Paulo. Recuperado de https://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/43/43134/tde-20052025-195023/
    • NLM

      Alberton SGPN. Reliability of power transistors in radiation environments [Internet]. 2025 ;[citado 2026 jan. 04 ] Available from: https://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/43/43134/tde-20052025-195023/
    • Vancouver

      Alberton SGPN. Reliability of power transistors in radiation environments [Internet]. 2025 ;[citado 2026 jan. 04 ] Available from: https://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/43/43134/tde-20052025-195023/
  • Unidade: IF

    Subjects: DISPOSITIVOS ELETRÔNICOS, NÊUTRONS, RADIAÇÃO IONIZANTE, INSTRUMENTAÇÃO (FÍSICA)

    Acesso à fonteAcesso à fonteDOIHow to cite
    A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
    • ABNT

      CESÁRIO, Greiciane de Jesus. Estudo de nêutrons em dispositivos eletrônicos. 2024. Tese (Doutorado) – Universidade de São Paulo, São Paulo, 2024. Disponível em: https://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/43/43134/tde-11102024-150455/. Acesso em: 04 jan. 2026.
    • APA

      Cesário, G. de J. (2024). Estudo de nêutrons em dispositivos eletrônicos (Tese (Doutorado). Universidade de São Paulo, São Paulo. Recuperado de https://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/43/43134/tde-11102024-150455/
    • NLM

      Cesário G de J. Estudo de nêutrons em dispositivos eletrônicos [Internet]. 2024 ;[citado 2026 jan. 04 ] Available from: https://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/43/43134/tde-11102024-150455/
    • Vancouver

      Cesário G de J. Estudo de nêutrons em dispositivos eletrônicos [Internet]. 2024 ;[citado 2026 jan. 04 ] Available from: https://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/43/43134/tde-11102024-150455/

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