Assunto: SISTEMAS DE INFORMAÇÃO
ABNT
VERGÍLIO, Sílvia Regina e MALDONADO, José Carlos e JINO, Mário. Resultados da aplicação de diferentes técnicas de geração de dados de teste sensíveis a defeitos. 2001, Anais.. [S.l.]: Instituto de Ciências Matemáticas e de Computação, Universidade de São Paulo, 2001. . Acesso em: 10 nov. 2024.APA
Vergílio, S. R., Maldonado, J. C., & Jino, M. (2001). Resultados da aplicação de diferentes técnicas de geração de dados de teste sensíveis a defeitos. In . Instituto de Ciências Matemáticas e de Computação, Universidade de São Paulo.NLM
Vergílio SR, Maldonado JC, Jino M. Resultados da aplicação de diferentes técnicas de geração de dados de teste sensíveis a defeitos. 2001 ;[citado 2024 nov. 10 ]Vancouver
Vergílio SR, Maldonado JC, Jino M. Resultados da aplicação de diferentes técnicas de geração de dados de teste sensíveis a defeitos. 2001 ;[citado 2024 nov. 10 ]