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  • Source: Applied Physics B. Unidade: IFSC

    Subjects: FOTÔNICA, LASER, BAIXA TEMPERATURA

    PrivadoAcesso à fonteDOIHow to cite
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    • ABNT

      FERNÁNDEZ, David Rodríguez et al. Affordable medium-finesse optical cavity for diode laser stabilization oscillations. Applied Physics B, v. 130, n. 4, p. 60-1-60-11, 2024Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1007/s00340-024-08190-4. Acesso em: 17 nov. 2024.
    • APA

      Fernández, D. R., Torres, M. A. L., Cardoso, M. R., Kondo, J. D. M., Saffman, M., & Marcassa, L. G. (2024). Affordable medium-finesse optical cavity for diode laser stabilization oscillations. Applied Physics B, 130( 4), 60-1-60-11. doi:10.1007/s00340-024-08190-4
    • NLM

      Fernández DR, Torres MAL, Cardoso MR, Kondo JDM, Saffman M, Marcassa LG. Affordable medium-finesse optical cavity for diode laser stabilization oscillations [Internet]. Applied Physics B. 2024 ; 130( 4): 60-1-60-11.[citado 2024 nov. 17 ] Available from: https://doi.org/10.1007/s00340-024-08190-4
    • Vancouver

      Fernández DR, Torres MAL, Cardoso MR, Kondo JDM, Saffman M, Marcassa LG. Affordable medium-finesse optical cavity for diode laser stabilization oscillations [Internet]. Applied Physics B. 2024 ; 130( 4): 60-1-60-11.[citado 2024 nov. 17 ] Available from: https://doi.org/10.1007/s00340-024-08190-4
  • Source: Applied Physics B. Unidade: IFSC

    Subjects: FOTÔNICA, VIDRO, LASER

    Acesso à fonteDOIHow to cite
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    • ABNT

      MIGUEZ, M. L. et al. Nonlinear ellipse rotation measurements in optical thick samples. Applied Physics B, v. 120, n. 4, p. 653-658, 2015Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1007/s00340-015-6178-x. Acesso em: 17 nov. 2024.
    • APA

      Miguez, M. L., Barbano, E. C., Coura, J. A., Zílio, S. C., & Misoguti, L. (2015). Nonlinear ellipse rotation measurements in optical thick samples. Applied Physics B, 120( 4), 653-658. doi:10.1007/s00340-015-6178-x
    • NLM

      Miguez ML, Barbano EC, Coura JA, Zílio SC, Misoguti L. Nonlinear ellipse rotation measurements in optical thick samples [Internet]. Applied Physics B. 2015 ; 120( 4): 653-658.[citado 2024 nov. 17 ] Available from: https://doi.org/10.1007/s00340-015-6178-x
    • Vancouver

      Miguez ML, Barbano EC, Coura JA, Zílio SC, Misoguti L. Nonlinear ellipse rotation measurements in optical thick samples [Internet]. Applied Physics B. 2015 ; 120( 4): 653-658.[citado 2024 nov. 17 ] Available from: https://doi.org/10.1007/s00340-015-6178-x

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