Analysis of measurement procedures of EGFET devices using FTO thin films (2011)
Source: Livro de Resumos. Conference titles: Encontro Nacional de Física da Matéria Condensada. Unidade: FFCLRP
Subjects: BIOENGENHARIA, SENSORES BIOMÉDICOS, MEDIDAS FÍSICAS, TRANSISTORES
ABNT
NASCIMENTO, Raphael Aparecido Sanches e MULATO, Marcelo. Analysis of measurement procedures of EGFET devices using FTO thin films. 2011, Anais.. São Paulo: SBF, 2011. . Acesso em: 16 out. 2024.APA
Nascimento, R. A. S., & Mulato, M. (2011). Analysis of measurement procedures of EGFET devices using FTO thin films. In Livro de Resumos. São Paulo: SBF.NLM
Nascimento RAS, Mulato M. Analysis of measurement procedures of EGFET devices using FTO thin films. Livro de Resumos. 2011 ;[citado 2024 out. 16 ]Vancouver
Nascimento RAS, Mulato M. Analysis of measurement procedures of EGFET devices using FTO thin films. Livro de Resumos. 2011 ;[citado 2024 out. 16 ]