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  • Source: Applied Optics. Unidade: IFSC

    Subjects: ÓPTICA NÃO LINEAR, FOTÔNICA

    PrivadoAcesso à fonteDOIHow to cite
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    • ABNT

      LAGES, Eduardo et al. Measurement of the refractive index profile of waveguides using defocusing microscopy. Applied Optics, v. 57, n. 29, p. 8699-8704, 2018Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1364/AO.57.008699. Acesso em: 27 jun. 2024.
    • APA

      Lages, E., Cardoso, W., Almeida, G. F. B., Siman, L., Mesquita, O., Mendonça, C. R., et al. (2018). Measurement of the refractive index profile of waveguides using defocusing microscopy. Applied Optics, 57( 29), 8699-8704. doi:10.1364/AO.57.008699
    • NLM

      Lages E, Cardoso W, Almeida GFB, Siman L, Mesquita O, Mendonça CR, Agero U, Sebastião Pádua. Measurement of the refractive index profile of waveguides using defocusing microscopy [Internet]. Applied Optics. 2018 ; 57( 29): 8699-8704.[citado 2024 jun. 27 ] Available from: https://doi.org/10.1364/AO.57.008699
    • Vancouver

      Lages E, Cardoso W, Almeida GFB, Siman L, Mesquita O, Mendonça CR, Agero U, Sebastião Pádua. Measurement of the refractive index profile of waveguides using defocusing microscopy [Internet]. Applied Optics. 2018 ; 57( 29): 8699-8704.[citado 2024 jun. 27 ] Available from: https://doi.org/10.1364/AO.57.008699

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