Subjects: POLÍMEROS (QUÍMICA ORGÂNICA), MATÉRIA CONDENSADA (PROPRIEDADES ELÉTRICAS), DIELÉTRICOS
ABNT
SILVA, Marcelo de Assumpção Pereira da. Análise de superfície de filmes finos de polianilina depositados em diferentes substratos por microscopia de força atômica. 2001. Tese (Doutorado) – Universidade de São Paulo, São Carlos, 2001. Disponível em: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/88/88131/tde-06062007-191316/. Acesso em: 16 out. 2024.APA
Silva, M. de A. P. da. (2001). Análise de superfície de filmes finos de polianilina depositados em diferentes substratos por microscopia de força atômica (Tese (Doutorado). Universidade de São Paulo, São Carlos. Recuperado de http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/88/88131/tde-06062007-191316/NLM
Silva M de AP da. Análise de superfície de filmes finos de polianilina depositados em diferentes substratos por microscopia de força atômica [Internet]. 2001 ;[citado 2024 out. 16 ] Available from: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/88/88131/tde-06062007-191316/Vancouver
Silva M de AP da. Análise de superfície de filmes finos de polianilina depositados em diferentes substratos por microscopia de força atômica [Internet]. 2001 ;[citado 2024 out. 16 ] Available from: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/88/88131/tde-06062007-191316/