Análise de superfície de filmes finos de polianilina depositados em diferentes substratos por microscopia de força atômica (2001)
- Authors:
- Autor USP: SILVA, MARCELO DE ASSUMPCAO PEREIRA DA - ENGMAT
- Unidade: ENGMAT
- Subjects: POLÍMEROS (QUÍMICA ORGÂNICA); MATÉRIA CONDENSADA (PROPRIEDADES ELÉTRICAS); DIELÉTRICOS
- Language: Português
- Abstract: Este trabalho apresenta um estudo sobre a morfologia de filmes finos de polianilina, fabricados por diferentes processos e depositados sobres diferentes substratos pela técnica de microscopia de força atômica (AFM). Os processos usados para a fabricação dos filmes foram o de espalhamento fluido, o de centrifugação, o de automontagem e o eletroquímico. Os substratos usados foram: vidro, ouro/cromo/vidro, quartzo, ITO, silício e mica. Além da análise visual da qualidade dos filmes, ou seja, do grau de recobrimento do substrato e da uniformidade dos filmes, foram feitas análises de parâmetros quantitativos através de medidas de rugosidade. Usando modelos de crescimento como o de deposição balística e de análise de rugosidade, como o da densidade do espectro de potência, (transformada de Fourier da rugosidade da imagem em função da frequência espectral) em superfícies auto-afins, foram obtidos parâmetros como: expoente de rugosidade, comprimento característico de correlação e dimensão fractal. Apesar dos filmes de polianilina serem sistemas extremamente complexos, - compostos de macromoléculas formando uma estrutura semicristalina - os parâmetros obtidos por esses modelos, que foram elaborados para sistemas bem mais simples, deram resultados muito bons e auto-coerentes. Como conclusão, mostramos que a conjuminação da técnica de microscopia de força atômica com esses modelos compõem um método poderoso para o estudo de filmes finos orgânicos
- Imprenta:
- Publisher place: São Carlos
- Date published: 2001
- Data da defesa: 16.03.2001
-
ABNT
SILVA, Marcelo de Assumpção Pereira da. Análise de superfície de filmes finos de polianilina depositados em diferentes substratos por microscopia de força atômica. 2001. Tese (Doutorado) – Universidade de São Paulo, São Carlos, 2001. Disponível em: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/88/88131/tde-06062007-191316/. Acesso em: 23 abr. 2024. -
APA
Silva, M. de A. P. da. (2001). Análise de superfície de filmes finos de polianilina depositados em diferentes substratos por microscopia de força atômica (Tese (Doutorado). Universidade de São Paulo, São Carlos. Recuperado de http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/88/88131/tde-06062007-191316/ -
NLM
Silva M de AP da. Análise de superfície de filmes finos de polianilina depositados em diferentes substratos por microscopia de força atômica [Internet]. 2001 ;[citado 2024 abr. 23 ] Available from: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/88/88131/tde-06062007-191316/ -
Vancouver
Silva M de AP da. Análise de superfície de filmes finos de polianilina depositados em diferentes substratos por microscopia de força atômica [Internet]. 2001 ;[citado 2024 abr. 23 ] Available from: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/88/88131/tde-06062007-191316/ - Microscopia de força atômica aplicada a polímeros. (Em CD-ROM)
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