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  • Source: Applied Physics Letters. Unidade: IF

    Subjects: FÍSICA NUCLEAR, SILÍCIO, COLISÕES DE ÍONS PESADOS RELATIVÍSTICOS, RESISTÊNCIA FÍSICA, DISPOSITIVOS ELETRÔNICOS, FÍSICA, SEMICONDUTORES, TRANSISTORES

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    • ABNT

      FINKA, D. et al. Irradiation induced pulsations of reverse biased metal oxide/silicon structures. Applied Physics Letters, v. 91, n. 8, 2007Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1063/1.2773950. Acesso em: 01 jul. 2024.
    • APA

      Finka, D., Kiv, A., Fuks, D., Tabacniks, M., Rizzutto, M., Silva, A. D. O. D., et al. (2007). Irradiation induced pulsations of reverse biased metal oxide/silicon structures. Applied Physics Letters, 91( 8). doi:10.1063/1.2773950
    • NLM

      Finka D, Kiv A, Fuks D, Tabacniks M, Rizzutto M, Silva ADOD, Chandra A, Golovanov V, Ivanovskaya M, Khirunenko L. Irradiation induced pulsations of reverse biased metal oxide/silicon structures [Internet]. Applied Physics Letters. 2007 ; 91( 8):[citado 2024 jul. 01 ] Available from: https://doi.org/10.1063/1.2773950
    • Vancouver

      Finka D, Kiv A, Fuks D, Tabacniks M, Rizzutto M, Silva ADOD, Chandra A, Golovanov V, Ivanovskaya M, Khirunenko L. Irradiation induced pulsations of reverse biased metal oxide/silicon structures [Internet]. Applied Physics Letters. 2007 ; 91( 8):[citado 2024 jul. 01 ] Available from: https://doi.org/10.1063/1.2773950
  • Source: Applied Physics Letters. Unidade: IFSC

    Subjects: FÍSICA, SEMICONDUTORES, CAMPO MAGNÉTICO

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    • ABNT

      HAI, Guo-Qiang e OLIVEIRA, S. S. Comment on "Field-controlled suppression of phonon-induced transitions in coupled quantum dots" [Appl. Phys. Lett. 85, 4729 (2004)]. Applied Physics Letters. Melville: Instituto de Física de São Carlos, Universidade de São Paulo. . Acesso em: 01 jul. 2024. , 2006
    • APA

      Hai, G. -Q., & Oliveira, S. S. (2006). Comment on "Field-controlled suppression of phonon-induced transitions in coupled quantum dots" [Appl. Phys. Lett. 85, 4729 (2004)]. Applied Physics Letters. Melville: Instituto de Física de São Carlos, Universidade de São Paulo.
    • NLM

      Hai G-Q, Oliveira SS. Comment on "Field-controlled suppression of phonon-induced transitions in coupled quantum dots" [Appl. Phys. Lett. 85, 4729 (2004)]. Applied Physics Letters. 2006 ; 88( 19): 196101-1-196101-2.[citado 2024 jul. 01 ]
    • Vancouver

      Hai G-Q, Oliveira SS. Comment on "Field-controlled suppression of phonon-induced transitions in coupled quantum dots" [Appl. Phys. Lett. 85, 4729 (2004)]. Applied Physics Letters. 2006 ; 88( 19): 196101-1-196101-2.[citado 2024 jul. 01 ]
  • Source: Applied Physics Letters. Unidade: IF

    Assunto: FÍSICA

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    • ABNT

      RODRIGUES, S C P et al. Valence band structure of cubic AlGaN/GaN superlattices. Applied Physics Letters, v. 76, n. 8, p. 1015-1017, 2000Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1063/1.125924. Acesso em: 01 jul. 2024.
    • APA

      Rodrigues, S. C. P., Scolfaro, L. M. R., Leite, J. R., & Sipahi, G. M. (2000). Valence band structure of cubic AlGaN/GaN superlattices. Applied Physics Letters, 76( 8), 1015-1017. doi:10.1063/1.125924
    • NLM

      Rodrigues SCP, Scolfaro LMR, Leite JR, Sipahi GM. Valence band structure of cubic AlGaN/GaN superlattices [Internet]. Applied Physics Letters. 2000 ; 76( 8): 1015-1017.[citado 2024 jul. 01 ] Available from: https://doi.org/10.1063/1.125924
    • Vancouver

      Rodrigues SCP, Scolfaro LMR, Leite JR, Sipahi GM. Valence band structure of cubic AlGaN/GaN superlattices [Internet]. Applied Physics Letters. 2000 ; 76( 8): 1015-1017.[citado 2024 jul. 01 ] Available from: https://doi.org/10.1063/1.125924
  • Source: Applied Physics Letters. Unidade: IME

    Subjects: FÍSICA, ÓPTICA

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    • ABNT

      MULATO, Marcelo et al. Determination of thickness and optical constants of amorphous silicon films from transmittance data. Applied Physics Letters, v. 77, n. 14, p. 2133-2135, 2000Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1063/1.1314299. Acesso em: 01 jul. 2024.
    • APA

      Mulato, M., Chambouleyron, I. E., Birgin, E. J. G., & Martínez, J. M. (2000). Determination of thickness and optical constants of amorphous silicon films from transmittance data. Applied Physics Letters, 77( 14), 2133-2135. doi:10.1063/1.1314299
    • NLM

      Mulato M, Chambouleyron IE, Birgin EJG, Martínez JM. Determination of thickness and optical constants of amorphous silicon films from transmittance data [Internet]. Applied Physics Letters. 2000 ; 77( 14): 2133-2135.[citado 2024 jul. 01 ] Available from: https://doi.org/10.1063/1.1314299
    • Vancouver

      Mulato M, Chambouleyron IE, Birgin EJG, Martínez JM. Determination of thickness and optical constants of amorphous silicon films from transmittance data [Internet]. Applied Physics Letters. 2000 ; 77( 14): 2133-2135.[citado 2024 jul. 01 ] Available from: https://doi.org/10.1063/1.1314299
  • Source: Applied Physics Letters. Unidade: IF

    Assunto: FÍSICA

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    • ABNT

      MIOTTO, R. e SRIVASTAVA, G P e FERRAZ, A. C. Structure of Zn adsorption on GaAs(001)-(2X4). Applied Physics Letters, v. 76, n. 25, p. 3735-3737, 2000Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1063/1.126766. Acesso em: 01 jul. 2024.
    • APA

      Miotto, R., Srivastava, G. P., & Ferraz, A. C. (2000). Structure of Zn adsorption on GaAs(001)-(2X4). Applied Physics Letters, 76( 25), 3735-3737. doi:10.1063/1.126766
    • NLM

      Miotto R, Srivastava GP, Ferraz AC. Structure of Zn adsorption on GaAs(001)-(2X4) [Internet]. Applied Physics Letters. 2000 ; 76( 25): 3735-3737.[citado 2024 jul. 01 ] Available from: https://doi.org/10.1063/1.126766
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      Miotto R, Srivastava GP, Ferraz AC. Structure of Zn adsorption on GaAs(001)-(2X4) [Internet]. Applied Physics Letters. 2000 ; 76( 25): 3735-3737.[citado 2024 jul. 01 ] Available from: https://doi.org/10.1063/1.126766
  • Source: Applied Physics Letters. Unidade: IF

    Assunto: FÍSICA

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    • ABNT

      SILVEIRA, E. et al. Evidence of phase separation in cubic 'In IND.X''Ga IND.1-X' N epitaxial layers by resonant Raman scattering. Applied Physics Letters, v. 75, n. 23, p. 3602-3604, 1999Tradução . . Acesso em: 01 jul. 2024.
    • APA

      Silveira, E., Tabata, A., Leite, J. R., Trentin, R., Lemos, V., Frey, T., et al. (1999). Evidence of phase separation in cubic 'In IND.X''Ga IND.1-X' N epitaxial layers by resonant Raman scattering. Applied Physics Letters, 75( 23), 3602-3604.
    • NLM

      Silveira E, Tabata A, Leite JR, Trentin R, Lemos V, Frey T, As DJ, Schikora D, Lischka K. Evidence of phase separation in cubic 'In IND.X''Ga IND.1-X' N epitaxial layers by resonant Raman scattering. Applied Physics Letters. 1999 ; 75( 23): 3602-3604.[citado 2024 jul. 01 ]
    • Vancouver

      Silveira E, Tabata A, Leite JR, Trentin R, Lemos V, Frey T, As DJ, Schikora D, Lischka K. Evidence of phase separation in cubic 'In IND.X''Ga IND.1-X' N epitaxial layers by resonant Raman scattering. Applied Physics Letters. 1999 ; 75( 23): 3602-3604.[citado 2024 jul. 01 ]
  • Source: Applied Physics Letters. Unidade: IF

    Assunto: FÍSICA

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    • ABNT

      TABATA, A. et al. Structural properties and Raman modes of zinc blende InN epitaxial layers. Applied Physics Letters, v. 74, n. 3, p. 362-364, 1999Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1063/1.123072. Acesso em: 01 jul. 2024.
    • APA

      Tabata, A., Lima, A. P., Teles, L. K., Scolfaro, L. M. R., Leite, J. R., Lemos, V., et al. (1999). Structural properties and Raman modes of zinc blende InN epitaxial layers. Applied Physics Letters, 74( 3), 362-364. doi:10.1063/1.123072
    • NLM

      Tabata A, Lima AP, Teles LK, Scolfaro LMR, Leite JR, Lemos V, Schoettker B, Frey T, Schikova D, Lischka K. Structural properties and Raman modes of zinc blende InN epitaxial layers [Internet]. Applied Physics Letters. 1999 ; 74( 3): 362-364.[citado 2024 jul. 01 ] Available from: https://doi.org/10.1063/1.123072
    • Vancouver

      Tabata A, Lima AP, Teles LK, Scolfaro LMR, Leite JR, Lemos V, Schoettker B, Frey T, Schikova D, Lischka K. Structural properties and Raman modes of zinc blende InN epitaxial layers [Internet]. Applied Physics Letters. 1999 ; 74( 3): 362-364.[citado 2024 jul. 01 ] Available from: https://doi.org/10.1063/1.123072
  • Source: Applied Physics Letters. Unidade: IF

    Assunto: FÍSICA

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    • ABNT

      TABATA, A. et al. Raman phonon modes of zinc blende 'In IND. X''Ga IND. 1-X' N alloy epitaxial layers. Applied Physics Letters, v. 75, n. 8, p. 1095-1097, 1999Tradução . . Acesso em: 01 jul. 2024.
    • APA

      Tabata, A., Leite, J. R., Lima, A. P., Silveira, E., Frey, T., As, D. J., et al. (1999). Raman phonon modes of zinc blende 'In IND. X''Ga IND. 1-X' N alloy epitaxial layers. Applied Physics Letters, 75( 8), 1095-1097.
    • NLM

      Tabata A, Leite JR, Lima AP, Silveira E, Frey T, As DJ, Schikora D, Lischka K. Raman phonon modes of zinc blende 'In IND. X''Ga IND. 1-X' N alloy epitaxial layers. Applied Physics Letters. 1999 ; 75( 8): 1095-1097.[citado 2024 jul. 01 ]
    • Vancouver

      Tabata A, Leite JR, Lima AP, Silveira E, Frey T, As DJ, Schikora D, Lischka K. Raman phonon modes of zinc blende 'In IND. X''Ga IND. 1-X' N alloy epitaxial layers. Applied Physics Letters. 1999 ; 75( 8): 1095-1097.[citado 2024 jul. 01 ]
  • Source: Applied Physics Letters. Unidade: IF

    Assunto: FÍSICA

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    • ABNT

      DANTAS, Amarildes Lorenzo Lôpo e SHIBLI, Suhaila Maluf e WALTON, D. Collinear mirage effect measurement of the thermal diffusivity in ferronematics. Applied Physics Letters, v. 72, n. 6, p. 674-676, 1998Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1063/1.120864. Acesso em: 01 jul. 2024.
    • APA

      Dantas, A. L. L., Shibli, S. M., & Walton, D. (1998). Collinear mirage effect measurement of the thermal diffusivity in ferronematics. Applied Physics Letters, 72( 6), 674-676. doi:10.1063/1.120864
    • NLM

      Dantas ALL, Shibli SM, Walton D. Collinear mirage effect measurement of the thermal diffusivity in ferronematics [Internet]. Applied Physics Letters. 1998 ; 72( 6): 674-676.[citado 2024 jul. 01 ] Available from: https://doi.org/10.1063/1.120864
    • Vancouver

      Dantas ALL, Shibli SM, Walton D. Collinear mirage effect measurement of the thermal diffusivity in ferronematics [Internet]. Applied Physics Letters. 1998 ; 72( 6): 674-676.[citado 2024 jul. 01 ] Available from: https://doi.org/10.1063/1.120864
  • Source: Applied Physics Letters. Unidade: IF

    Assunto: FÍSICA

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    • ABNT

      MORELHÃO, S L et al. Observation of coherent hybrid reflection with synchrotron radiation. Applied Physics Letters, v. 73, n. 15, p. 2194-2196, 1998Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1063/1.122420. Acesso em: 01 jul. 2024.
    • APA

      Morelhão, S. L., Avanci, L. H., Hayashi, M. A., Cardoso, L. P., & Collins, S. P. (1998). Observation of coherent hybrid reflection with synchrotron radiation. Applied Physics Letters, 73( 15), 2194-2196. doi:10.1063/1.122420
    • NLM

      Morelhão SL, Avanci LH, Hayashi MA, Cardoso LP, Collins SP. Observation of coherent hybrid reflection with synchrotron radiation [Internet]. Applied Physics Letters. 1998 ; 73( 15): 2194-2196.[citado 2024 jul. 01 ] Available from: https://doi.org/10.1063/1.122420
    • Vancouver

      Morelhão SL, Avanci LH, Hayashi MA, Cardoso LP, Collins SP. Observation of coherent hybrid reflection with synchrotron radiation [Internet]. Applied Physics Letters. 1998 ; 73( 15): 2194-2196.[citado 2024 jul. 01 ] Available from: https://doi.org/10.1063/1.122420
  • Source: Applied Physics Letters. Unidade: IF

    Assunto: FÍSICA

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    • ABNT

      MARTINELLI, M. et al. Sensitivity-enhanced reflection Z-scan by oblique incidence of a polarized beam. Applied Physics Letters, v. 72, n. 12, p. 1427-1429, 1998Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1063/1.120584. Acesso em: 01 jul. 2024.
    • APA

      Martinelli, M., Bian, S., Leite, J. R., & Horowicz, R. J. (1998). Sensitivity-enhanced reflection Z-scan by oblique incidence of a polarized beam. Applied Physics Letters, 72( 12), 1427-1429. doi:10.1063/1.120584
    • NLM

      Martinelli M, Bian S, Leite JR, Horowicz RJ. Sensitivity-enhanced reflection Z-scan by oblique incidence of a polarized beam [Internet]. Applied Physics Letters. 1998 ; 72( 12): 1427-1429.[citado 2024 jul. 01 ] Available from: https://doi.org/10.1063/1.120584
    • Vancouver

      Martinelli M, Bian S, Leite JR, Horowicz RJ. Sensitivity-enhanced reflection Z-scan by oblique incidence of a polarized beam [Internet]. Applied Physics Letters. 1998 ; 72( 12): 1427-1429.[citado 2024 jul. 01 ] Available from: https://doi.org/10.1063/1.120584
  • Source: Applied Physics Letters. Unidade: FFCLRP

    Assunto: FÍSICA

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    • ABNT

      GRAEFF, C F O et al. Optical excitation of paramagnetic nitrogen in chemical vapor deposited diamond. Applied Physics Letters, v. 69, n. 21, p. 3215-7, 1996Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1063/1.117965. Acesso em: 01 jul. 2024.
    • APA

      Graeff, C. F. O., Hoher, E., Nebel, C. E., Stutzmann, M., Guttler, H., & Zachai, R. (1996). Optical excitation of paramagnetic nitrogen in chemical vapor deposited diamond. Applied Physics Letters, 69( 21), 3215-7. doi:10.1063/1.117965
    • NLM

      Graeff CFO, Hoher E, Nebel CE, Stutzmann M, Guttler H, Zachai R. Optical excitation of paramagnetic nitrogen in chemical vapor deposited diamond [Internet]. Applied Physics Letters. 1996 ;69( 21): 3215-7.[citado 2024 jul. 01 ] Available from: https://doi.org/10.1063/1.117965
    • Vancouver

      Graeff CFO, Hoher E, Nebel CE, Stutzmann M, Guttler H, Zachai R. Optical excitation of paramagnetic nitrogen in chemical vapor deposited diamond [Internet]. Applied Physics Letters. 1996 ;69( 21): 3215-7.[citado 2024 jul. 01 ] Available from: https://doi.org/10.1063/1.117965

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