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Relatorio tecnico
Processing of massive rutherford back-scattering spectrometry data by artificial neural networks (2022)
Guimarães, Renato dos Santos ; Bach, Simon; Burwitz, Vassily V.; Hiret, Paul; Mayer, Matej; Silva, Tiago Fiorini da ; Rodrigues, Cleber Lima ; Tabacniks, Manfredo Harri
Unidade: IF
Assuntos: ESPECTROSCOPIA, REDES NEURAIS
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ABNT
GUIMARÃES, Renato dos Santos et al. Processing of massive rutherford back-scattering spectrometry data by artificial neural networks. . São Paulo: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. Disponível em: https://arxiv.org/ftp/arxiv/papers/2205/2205.05680.pdf. Acesso em: 10 out. 2024. , 2022
APA
Guimarães, R. dos S., Bach, S., Burwitz, V. V., Hiret, P., Mayer, M., Silva, T. F. da, et al. (2022). Processing of massive rutherford back-scattering spectrometry data by artificial neural networks. São Paulo: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. Recuperado de https://arxiv.org/ftp/arxiv/papers/2205/2205.05680.pdf
NLM
Guimarães R dos S, Bach S, Burwitz VV, Hiret P, Mayer M, Silva TF da, Rodrigues CL, Tabacniks MH. Processing of massive rutherford back-scattering spectrometry data by artificial neural networks [Internet]. 2022 ;[citado 2024 out. 10 ] Available from: https://arxiv.org/ftp/arxiv/papers/2205/2205.05680.pdf
Vancouver
Guimarães R dos S, Bach S, Burwitz VV, Hiret P, Mayer M, Silva TF da, Rodrigues CL, Tabacniks MH. Processing of massive rutherford back-scattering spectrometry data by artificial neural networks [Internet]. 2022 ;[citado 2024 out. 10 ] Available from: https://arxiv.org/ftp/arxiv/papers/2205/2205.05680.pdf
Artigo de periodico
Bias and synergy in the self-consistent approach of data analysis of ion beam techniques (2022)
Tiago Fiorini da Silva ; Cleber Rodrigues ; Tabacniks, Manfredo ; Toussaint, U. von; Mayer, Matej
Fonte: Nuclear instruments & methods in physics research section b-beam interactions with materials and atoms. Unidade: IF
Assuntos: FÍSICA NUCLEAR, ACELERADOR DE PARTÍCULAS, ÍONS, EQUAÇÕES DIFERENCIAIS DA FÍSICA
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ABNT
TIAGO FIORINI DA SILVA, et al. Bias and synergy in the self-consistent approach of data analysis of ion beam techniques. Nuclear instruments & methods in physics research section b-beam interactions with materials and atoms, v. 533, p. 9-16, 2022Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1016/j.nimb.2022.10.008. Acesso em: 10 out. 2024.
APA
Tiago Fiorini da Silva,, Cleber Rodrigues,, Tabacniks, M., Toussaint, U. von, & Mayer, M. (2022). Bias and synergy in the self-consistent approach of data analysis of ion beam techniques. Nuclear instruments & methods in physics research section b-beam interactions with materials and atoms, 533, 9-16. doi:10.1016/j.nimb.2022.10.008
NLM
Tiago Fiorini da Silva, Cleber Rodrigues, Tabacniks M, Toussaint U von, Mayer M. Bias and synergy in the self-consistent approach of data analysis of ion beam techniques [Internet]. Nuclear instruments & methods in physics research section b-beam interactions with materials and atoms. 2022 ; 533 9-16.[citado 2024 out. 10 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.nimb.2022.10.008
Vancouver
Tiago Fiorini da Silva, Cleber Rodrigues, Tabacniks M, Toussaint U von, Mayer M. Bias and synergy in the self-consistent approach of data analysis of ion beam techniques [Internet]. Nuclear instruments & methods in physics research section b-beam interactions with materials and atoms. 2022 ; 533 9-16.[citado 2024 out. 10 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.nimb.2022.10.008
Relatorio tecnico
Bias and synergy in the self-consistent approach of data analysis of ion beam techniques (2021)
Silva, T. F.; Toussaint, U. von; Mayer, M.; Rodrigues, Cleber Lima ; Tabacniks, Manfredo Harri
Unidade: IF
Assuntos: ÍONS, ESPECTROMETRIA
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ABNT
SILVA, T. F. et al. Bias and synergy in the self-consistent approach of data analysis of ion beam techniques. . São Paulo: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. Disponível em: https://arxiv.org/pdf/2111.13298.pdf. Acesso em: 10 out. 2024. , 2021
APA
Silva, T. F., Toussaint, U. von, Mayer, M., Rodrigues, C. L., & Tabacniks, M. H. (2021). Bias and synergy in the self-consistent approach of data analysis of ion beam techniques. São Paulo: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. Recuperado de https://arxiv.org/pdf/2111.13298.pdf
NLM
Silva TF, Toussaint U von, Mayer M, Rodrigues CL, Tabacniks MH. Bias and synergy in the self-consistent approach of data analysis of ion beam techniques [Internet]. 2021 ;[citado 2024 out. 10 ] Available from: https://arxiv.org/pdf/2111.13298.pdf
Vancouver
Silva TF, Toussaint U von, Mayer M, Rodrigues CL, Tabacniks MH. Bias and synergy in the self-consistent approach of data analysis of ion beam techniques [Internet]. 2021 ;[citado 2024 out. 10 ] Available from: https://arxiv.org/pdf/2111.13298.pdf
Artigo de periodico
Processing of massive Rutherford Back-scattering Spectrometry data by artificial neural networks (2021)
Guimarães, Renato da S.; Silva, Tiago Fiorini da ; Rodrigues, Cleber ; Tabacniks, Manfredo ; Bach, Simon; Burwitz, Vassily V.; Paul Hiret ; Matej Mayer
Fonte: Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms. Unidade: IF
Assuntos: REDES NEURAIS, INTELIGÊNCIA ARTIFICIAL, ESPECTROMETRIA, ESPALHAMENTO, PROCESSAMENTO DE DADOS
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ABNT
GUIMARÃES, Renato da S. et al. Processing of massive Rutherford Back-scattering Spectrometry data by artificial neural networks. Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms, v. 493, p. 28-34, 2021Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1016/j.nimb.2021.02.010. Acesso em: 10 out. 2024.
APA
Guimarães, R. da S., Silva, T. F. da, Rodrigues, C., Tabacniks, M., Bach, S., Burwitz, V. V., et al. (2021). Processing of massive Rutherford Back-scattering Spectrometry data by artificial neural networks. Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms, 493, 28-34. doi:10.1016/j.nimb.2021.02.010
NLM
Guimarães R da S, Silva TF da, Rodrigues C, Tabacniks M, Bach S, Burwitz VV, Paul Hiret, Matej Mayer. Processing of massive Rutherford Back-scattering Spectrometry data by artificial neural networks [Internet]. Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms. 2021 ; 493 28-34.[citado 2024 out. 10 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.nimb.2021.02.010
Vancouver
Guimarães R da S, Silva TF da, Rodrigues C, Tabacniks M, Bach S, Burwitz VV, Paul Hiret, Matej Mayer. Processing of massive Rutherford Back-scattering Spectrometry data by artificial neural networks [Internet]. Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms. 2021 ; 493 28-34.[citado 2024 out. 10 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.nimb.2021.02.010
Relatorio tecnico
Self-consistent ion beam analysis: an approach by multi-objective optimization (2021)
Silva, T. F.; Höschen, T.; Toussaint, U. von; Mayer, M.; Rodrigues, Cleber Lima ; Tabacniks, Manfredo Harri ; Added, Nemitala ; Rizzutto, Márcia de Almeida
Unidade: IF
Assuntos: ÍONS, SIMULAÇÃO
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ABNT
SILVA, T. F. et al. Self-consistent ion beam analysis: an approach by multi-objective optimization. . São Paulo: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. Disponível em: https://arxiv.org/pdf/2108.01498.pdf. Acesso em: 10 out. 2024. , 2021
APA
Silva, T. F., Höschen, T., Toussaint, U. von, Mayer, M., Rodrigues, C. L., Tabacniks, M. H., et al. (2021). Self-consistent ion beam analysis: an approach by multi-objective optimization. São Paulo: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. Recuperado de https://arxiv.org/pdf/2108.01498.pdf
NLM
Silva TF, Höschen T, Toussaint U von, Mayer M, Rodrigues CL, Tabacniks MH, Added N, Rizzutto M de A. Self-consistent ion beam analysis: an approach by multi-objective optimization [Internet]. 2021 ;[citado 2024 out. 10 ] Available from: https://arxiv.org/pdf/2108.01498.pdf
Vancouver
Silva TF, Höschen T, Toussaint U von, Mayer M, Rodrigues CL, Tabacniks MH, Added N, Rizzutto M de A. Self-consistent ion beam analysis: an approach by multi-objective optimization [Internet]. 2021 ;[citado 2024 out. 10 ] Available from: https://arxiv.org/pdf/2108.01498.pdf
Artigo de periodico
Self-consistent ion beam analysis: An approach by multi-objective optimization (2021)
Silva, Tiago Fiorini da ; Rodrigues, Cleber ; Added, Nemitala ; Rizzutto, Marcia A. ; Tabacniks, Manfredo ; Höschen, T.; Toussaint, U. von; Mayer, M.
Fonte: Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms. Unidade: IF
Assuntos: FÍSICA NUCLEAR, MATERIAIS, ÍONS ELETRÔNICOS, ALGORITMOS ÚTEIS E ESPECÍFICOS
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ABNT
SILVA, Tiago Fiorini da et al. Self-consistent ion beam analysis: An approach by multi-objective optimization. Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms, v. 506, p. 32-40, 2021Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1016/j.nimb.2021.09.007. Acesso em: 10 out. 2024.
APA
Silva, T. F. da, Rodrigues, C., Added, N., Rizzutto, M. A., Tabacniks, M., Höschen, T., et al. (2021). Self-consistent ion beam analysis: An approach by multi-objective optimization. Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms, 506, 32-40. doi:10.1016/j.nimb.2021.09.007
NLM
Silva TF da, Rodrigues C, Added N, Rizzutto MA, Tabacniks M, Höschen T, Toussaint U von, Mayer M. Self-consistent ion beam analysis: An approach by multi-objective optimization [Internet]. Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms. 2021 ; 506 32-40.[citado 2024 out. 10 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.nimb.2021.09.007
Vancouver
Silva TF da, Rodrigues C, Added N, Rizzutto MA, Tabacniks M, Höschen T, Toussaint U von, Mayer M. Self-consistent ion beam analysis: An approach by multi-objective optimization [Internet]. Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms. 2021 ; 506 32-40.[citado 2024 out. 10 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.nimb.2021.09.007
Relatorio tecnico
MultiSIMNRA: a computational tool for self-consistent ion beam analysis using SIMNRA (2018)
Silva, Tiago Fiorini da; Moro, M. V.; Trindade, G. F.; Aguirre, F. R.; Mayer, M.; Added, Nemitala; Rizzutto, Marcia de Almeida; Tabacniks, Manfredo Harri
Unidade: IF
Assuntos: RAIOS X, ESPECTROMETRIA, FÍSICA DA MATÉRIA CONDENSADA
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ABNT
SILVA, Tiago Fiorini da et al. MultiSIMNRA: a computational tool for self-consistent ion beam analysis using SIMNRA. . São Paulo: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. Disponível em: https://arxiv.org/abs/1803.01946. Acesso em: 10 out. 2024. , 2018
APA
Silva, T. F. da, Moro, M. V., Trindade, G. F., Aguirre, F. R., Mayer, M., Added, N., et al. (2018). MultiSIMNRA: a computational tool for self-consistent ion beam analysis using SIMNRA. São Paulo: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. Recuperado de https://arxiv.org/abs/1803.01946
NLM
Silva TF da, Moro MV, Trindade GF, Aguirre FR, Mayer M, Added N, Rizzutto M de A, Tabacniks MH. MultiSIMNRA: a computational tool for self-consistent ion beam analysis using SIMNRA [Internet]. 2018 ;[citado 2024 out. 10 ] Available from: https://arxiv.org/abs/1803.01946
Vancouver
Silva TF da, Moro MV, Trindade GF, Aguirre FR, Mayer M, Added N, Rizzutto M de A, Tabacniks MH. MultiSIMNRA: a computational tool for self-consistent ion beam analysis using SIMNRA [Internet]. 2018 ;[citado 2024 out. 10 ] Available from: https://arxiv.org/abs/1803.01946
Trabalho de evento-resumo
Elemental thin film depth profiles by using self-consistent ion beam analysis – MultiSIMNRA: a new computational tool (2016)
Rodrigues, Cleber Lima; Rizzutto, Marcia de Almeida; Silva, Tiago Fiorini da; Mayer, B M; Added, Nemitala; Rizzutto, Marcia de Almeida; Tabacniks, Manfredo Harri
Fonte: Posters - Resumo. Nome do evento: Encontro de Física. Unidade: IF
Assuntos: FÍSICA DA MATÉRIA CONDENSADA, INSTRUMENTAÇÃO (FÍSICA), ANÁLISE DE DADOS, SOFTWARES, DETETORES, FEIXES, ESPALHAMENTO
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
RODRIGUES, Cleber Lima et al. Elemental thin film depth profiles by using self-consistent ion beam analysis – MultiSIMNRA: a new computational tool. 2016, Anais.. São Paulo: SBF, 2016. Disponível em: http://www1.sbfisica.org.br/eventos/enf/2016/sys/resumos/R1935-1.pdf. Acesso em: 10 out. 2024.
APA
Rodrigues, C. L., Rizzutto, M. de A., Silva, T. F. da, Mayer, B. M., Added, N., Rizzutto, M. de A., & Tabacniks, M. H. (2016). Elemental thin film depth profiles by using self-consistent ion beam analysis – MultiSIMNRA: a new computational tool. In Posters - Resumo. São Paulo: SBF. Recuperado de http://www1.sbfisica.org.br/eventos/enf/2016/sys/resumos/R1935-1.pdf
NLM
Rodrigues CL, Rizzutto M de A, Silva TF da, Mayer BM, Added N, Rizzutto M de A, Tabacniks MH. Elemental thin film depth profiles by using self-consistent ion beam analysis – MultiSIMNRA: a new computational tool [Internet]. Posters - Resumo. 2016 ;[citado 2024 out. 10 ] Available from: http://www1.sbfisica.org.br/eventos/enf/2016/sys/resumos/R1935-1.pdf
Vancouver
Rodrigues CL, Rizzutto M de A, Silva TF da, Mayer BM, Added N, Rizzutto M de A, Tabacniks MH. Elemental thin film depth profiles by using self-consistent ion beam analysis – MultiSIMNRA: a new computational tool [Internet]. Posters - Resumo. 2016 ;[citado 2024 out. 10 ] Available from: http://www1.sbfisica.org.br/eventos/enf/2016/sys/resumos/R1935-1.pdf
Artigo de periodico
MultiSIMNRA: A computational tool for self-consistent ion beam analysis using SIMNRA (2016)
Silva, Tiago Fiorini da ; Rodrigues, Cleber ; Mayer, M.; Moro, M. V.; Trindade, G. F.; Aguirre, F. R.; Added, Nemitala ; Rizzutto, Marcia A. ; Tabacniks, Manfredo
Fonte: Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms. Unidade: IF
Assuntos: FÍSICA NUCLEAR, ÍONS, SIMULAÇÃO DE SISTEMAS, ALGORITMOS PARA PROCESSAMENTO, FILMES FINOS, COLISÕES DE ÍONS PESADOS RELATIVÍSTICOS
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
SILVA, Tiago Fiorini da et al. MultiSIMNRA: A computational tool for self-consistent ion beam analysis using SIMNRA. Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms, v. 371, p. 86-89, 2016Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1016/j.nimb.2015.10.038. Acesso em: 10 out. 2024.
APA
Silva, T. F. da, Rodrigues, C., Mayer, M., Moro, M. V., Trindade, G. F., Aguirre, F. R., et al. (2016). MultiSIMNRA: A computational tool for self-consistent ion beam analysis using SIMNRA. Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms, 371, 86-89. doi:10.1016/j.nimb.2015.10.038
NLM
Silva TF da, Rodrigues C, Mayer M, Moro MV, Trindade GF, Aguirre FR, Added N, Rizzutto MA, Tabacniks M. MultiSIMNRA: A computational tool for self-consistent ion beam analysis using SIMNRA [Internet]. Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms. 2016 ; 371 86-89.[citado 2024 out. 10 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.nimb.2015.10.038
Vancouver
Silva TF da, Rodrigues C, Mayer M, Moro MV, Trindade GF, Aguirre FR, Added N, Rizzutto MA, Tabacniks M. MultiSIMNRA: A computational tool for self-consistent ion beam analysis using SIMNRA [Internet]. Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms. 2016 ; 371 86-89.[citado 2024 out. 10 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.nimb.2015.10.038
Trabalho de evento-anais periodico
Swift heavy ion irradiation as a tool for creating novel nanoelectronic structures (2007)
Fink, D.; Chadderton, L. T.; Kiv, A.; Saad, A.; Tabacniks, Manfredo ; Rizzutto, Marcia ; Silva, A. De O. D.; Fahrner, W. R.; Hoppe, K.
Fonte: Radiation Effects and Defects in Solids. Nome do evento: International Meeting on Recent Developments in the Study of Radiation Effects in Matter. Unidade: IF
Assuntos: FÍSICA NUCLEAR, NANOTECNOLOGIA, COLISÕES DE ÍONS PESADOS RELATIVÍSTICOS, FÍSICA DE PLASMAS, ONDAS ELETROMAGNÉTICAS
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
FINK, D. et al. Swift heavy ion irradiation as a tool for creating novel nanoelectronic structures. Radiation Effects and Defects in Solids. Milton Park: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. Disponível em: https://doi.org/10.1080/10420150701470746. Acesso em: 10 out. 2024. , 2007
APA
Fink, D., Chadderton, L. T., Kiv, A., Saad, A., Tabacniks, M., Rizzutto, M., et al. (2007). Swift heavy ion irradiation as a tool for creating novel nanoelectronic structures. Radiation Effects and Defects in Solids. Milton Park: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. doi:10.1080/10420150701470746
NLM
Fink D, Chadderton LT, Kiv A, Saad A, Tabacniks M, Rizzutto M, Silva ADOD, Fahrner WR, Hoppe K. Swift heavy ion irradiation as a tool for creating novel nanoelectronic structures [Internet]. Radiation Effects and Defects in Solids. 2007 ; 162( 7-8): 543-555.[citado 2024 out. 10 ] Available from: https://doi.org/10.1080/10420150701470746
Vancouver
Fink D, Chadderton LT, Kiv A, Saad A, Tabacniks M, Rizzutto M, Silva ADOD, Fahrner WR, Hoppe K. Swift heavy ion irradiation as a tool for creating novel nanoelectronic structures [Internet]. Radiation Effects and Defects in Solids. 2007 ; 162( 7-8): 543-555.[citado 2024 out. 10 ] Available from: https://doi.org/10.1080/10420150701470746
Trabalho de evento-anais periodico
Formation and Conductive Properties of Miniaturized Fullerite Sensors (2002)
Berdinsky, Alexander S.; Fink, Dietmar; Petrov, Alexander V.; Müller, Manfred; Chadderton, Lewis T.; Chubaci, J. F. D. ; Tabacniks, Manfredo
Fonte: MRS Online Proceedings Library. Nome do evento: Symposium on Nanopatterning - From Ultralarge-Scale Integration to Biotechnology. Unidade: IF
Assuntos: FÍSICA NUCLEAR, NANOTECNOLOGIA, NANOTUBOS DE CARBONO, COLISÕES DE ÍONS PESADOS RELATIVÍSTICOS, SENSORES ELETROMECÂNICOS
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
BERDINSKY, Alexander S. et al. Formation and Conductive Properties of Miniaturized Fullerite Sensors. MRS Online Proceedings Library. Cambridge: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. Disponível em: https://doi.org/10.1557/PROC-705-Y4.7. Acesso em: 10 out. 2024. , 2002
APA
Berdinsky, A. S., Fink, D., Petrov, A. V., Müller, M., Chadderton, L. T., Chubaci, J. F. D., & Tabacniks, M. (2002). Formation and Conductive Properties of Miniaturized Fullerite Sensors. MRS Online Proceedings Library. Cambridge: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. doi:10.1557/PROC-705-Y4.7
NLM
Berdinsky AS, Fink D, Petrov AV, Müller M, Chadderton LT, Chubaci JFD, Tabacniks M. Formation and Conductive Properties of Miniaturized Fullerite Sensors [Internet]. MRS Online Proceedings Library. 2002 ; 705 125-131.[citado 2024 out. 10 ] Available from: https://doi.org/10.1557/PROC-705-Y4.7
Vancouver
Berdinsky AS, Fink D, Petrov AV, Müller M, Chadderton LT, Chubaci JFD, Tabacniks M. Formation and Conductive Properties of Miniaturized Fullerite Sensors [Internet]. MRS Online Proceedings Library. 2002 ; 705 125-131.[citado 2024 out. 10 ] Available from: https://doi.org/10.1557/PROC-705-Y4.7

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