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Relatorio tecnico
Processing of massive rutherford back-scattering spectrometry data by artificial neural networks (2022)
Guimarães, Renato dos Santos ; Bach, Simon; Burwitz, Vassily V.; Hiret, Paul; Mayer, Matej; Silva, Tiago Fiorini da ; Rodrigues, Cleber Lima ; Tabacniks, Manfredo Harri
Unidade: IF
Subjects: ESPECTROSCOPIA, REDES NEURAIS
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ABNT
GUIMARÃES, Renato dos Santos et al. Processing of massive rutherford back-scattering spectrometry data by artificial neural networks. . São Paulo: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. Disponível em: https://arxiv.org/ftp/arxiv/papers/2205/2205.05680.pdf. Acesso em: 10 out. 2024. , 2022
APA
Guimarães, R. dos S., Bach, S., Burwitz, V. V., Hiret, P., Mayer, M., Silva, T. F. da, et al. (2022). Processing of massive rutherford back-scattering spectrometry data by artificial neural networks. São Paulo: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. Recuperado de https://arxiv.org/ftp/arxiv/papers/2205/2205.05680.pdf
NLM
Guimarães R dos S, Bach S, Burwitz VV, Hiret P, Mayer M, Silva TF da, Rodrigues CL, Tabacniks MH. Processing of massive rutherford back-scattering spectrometry data by artificial neural networks [Internet]. 2022 ;[citado 2024 out. 10 ] Available from: https://arxiv.org/ftp/arxiv/papers/2205/2205.05680.pdf
Vancouver
Guimarães R dos S, Bach S, Burwitz VV, Hiret P, Mayer M, Silva TF da, Rodrigues CL, Tabacniks MH. Processing of massive rutherford back-scattering spectrometry data by artificial neural networks [Internet]. 2022 ;[citado 2024 out. 10 ] Available from: https://arxiv.org/ftp/arxiv/papers/2205/2205.05680.pdf
Relatorio tecnico
Bias and synergy in the self-consistent approach of data analysis of ion beam techniques (2021)
Silva, T. F.; Toussaint, U. von; Mayer, M.; Rodrigues, Cleber Lima ; Tabacniks, Manfredo Harri
Unidade: IF
Subjects: ÍONS, ESPECTROMETRIA
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ABNT
SILVA, T. F. et al. Bias and synergy in the self-consistent approach of data analysis of ion beam techniques. . São Paulo: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. Disponível em: https://arxiv.org/pdf/2111.13298.pdf. Acesso em: 10 out. 2024. , 2021
APA
Silva, T. F., Toussaint, U. von, Mayer, M., Rodrigues, C. L., & Tabacniks, M. H. (2021). Bias and synergy in the self-consistent approach of data analysis of ion beam techniques. São Paulo: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. Recuperado de https://arxiv.org/pdf/2111.13298.pdf
NLM
Silva TF, Toussaint U von, Mayer M, Rodrigues CL, Tabacniks MH. Bias and synergy in the self-consistent approach of data analysis of ion beam techniques [Internet]. 2021 ;[citado 2024 out. 10 ] Available from: https://arxiv.org/pdf/2111.13298.pdf
Vancouver
Silva TF, Toussaint U von, Mayer M, Rodrigues CL, Tabacniks MH. Bias and synergy in the self-consistent approach of data analysis of ion beam techniques [Internet]. 2021 ;[citado 2024 out. 10 ] Available from: https://arxiv.org/pdf/2111.13298.pdf
Relatorio tecnico
Self-consistent ion beam analysis: an approach by multi-objective optimization (2021)
Silva, T. F.; Höschen, T.; Toussaint, U. von; Mayer, M.; Rodrigues, Cleber Lima ; Tabacniks, Manfredo Harri ; Added, Nemitala ; Rizzutto, Márcia de Almeida
Unidade: IF
Subjects: ÍONS, SIMULAÇÃO
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ABNT
SILVA, T. F. et al. Self-consistent ion beam analysis: an approach by multi-objective optimization. . São Paulo: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. Disponível em: https://arxiv.org/pdf/2108.01498.pdf. Acesso em: 10 out. 2024. , 2021
APA
Silva, T. F., Höschen, T., Toussaint, U. von, Mayer, M., Rodrigues, C. L., Tabacniks, M. H., et al. (2021). Self-consistent ion beam analysis: an approach by multi-objective optimization. São Paulo: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. Recuperado de https://arxiv.org/pdf/2108.01498.pdf
NLM
Silva TF, Höschen T, Toussaint U von, Mayer M, Rodrigues CL, Tabacniks MH, Added N, Rizzutto M de A. Self-consistent ion beam analysis: an approach by multi-objective optimization [Internet]. 2021 ;[citado 2024 out. 10 ] Available from: https://arxiv.org/pdf/2108.01498.pdf
Vancouver
Silva TF, Höschen T, Toussaint U von, Mayer M, Rodrigues CL, Tabacniks MH, Added N, Rizzutto M de A. Self-consistent ion beam analysis: an approach by multi-objective optimization [Internet]. 2021 ;[citado 2024 out. 10 ] Available from: https://arxiv.org/pdf/2108.01498.pdf
Relatorio tecnico
MultiSIMNRA: a computational tool for self-consistent ion beam analysis using SIMNRA (2018)
Silva, Tiago Fiorini da; Moro, M. V.; Trindade, G. F.; Aguirre, F. R.; Mayer, M.; Added, Nemitala; Rizzutto, Marcia de Almeida; Tabacniks, Manfredo Harri
Unidade: IF
Subjects: RAIOS X, ESPECTROMETRIA, FÍSICA DA MATÉRIA CONDENSADA
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ABNT
SILVA, Tiago Fiorini da et al. MultiSIMNRA: a computational tool for self-consistent ion beam analysis using SIMNRA. . São Paulo: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. Disponível em: https://arxiv.org/abs/1803.01946. Acesso em: 10 out. 2024. , 2018
APA
Silva, T. F. da, Moro, M. V., Trindade, G. F., Aguirre, F. R., Mayer, M., Added, N., et al. (2018). MultiSIMNRA: a computational tool for self-consistent ion beam analysis using SIMNRA. São Paulo: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. Recuperado de https://arxiv.org/abs/1803.01946
NLM
Silva TF da, Moro MV, Trindade GF, Aguirre FR, Mayer M, Added N, Rizzutto M de A, Tabacniks MH. MultiSIMNRA: a computational tool for self-consistent ion beam analysis using SIMNRA [Internet]. 2018 ;[citado 2024 out. 10 ] Available from: https://arxiv.org/abs/1803.01946
Vancouver
Silva TF da, Moro MV, Trindade GF, Aguirre FR, Mayer M, Added N, Rizzutto M de A, Tabacniks MH. MultiSIMNRA: a computational tool for self-consistent ion beam analysis using SIMNRA [Internet]. 2018 ;[citado 2024 out. 10 ] Available from: https://arxiv.org/abs/1803.01946
Trabalho de evento-resumo
Elemental thin film depth profiles by using self-consistent ion beam analysis – MultiSIMNRA: a new computational tool (2016)
Rodrigues, Cleber Lima; Rizzutto, Marcia de Almeida; Silva, Tiago Fiorini da; Mayer, B M; Added, Nemitala; Rizzutto, Marcia de Almeida; Tabacniks, Manfredo Harri
Source: Posters - Resumo. Conference titles: Encontro de Física. Unidade: IF
Subjects: FÍSICA DA MATÉRIA CONDENSADA, INSTRUMENTAÇÃO (FÍSICA), ANÁLISE DE DADOS, SOFTWARES, DETETORES, FEIXES, ESPALHAMENTO
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ABNT
RODRIGUES, Cleber Lima et al. Elemental thin film depth profiles by using self-consistent ion beam analysis – MultiSIMNRA: a new computational tool. 2016, Anais.. São Paulo: SBF, 2016. Disponível em: http://www1.sbfisica.org.br/eventos/enf/2016/sys/resumos/R1935-1.pdf. Acesso em: 10 out. 2024.
APA
Rodrigues, C. L., Rizzutto, M. de A., Silva, T. F. da, Mayer, B. M., Added, N., Rizzutto, M. de A., & Tabacniks, M. H. (2016). Elemental thin film depth profiles by using self-consistent ion beam analysis – MultiSIMNRA: a new computational tool. In Posters - Resumo. São Paulo: SBF. Recuperado de http://www1.sbfisica.org.br/eventos/enf/2016/sys/resumos/R1935-1.pdf
NLM
Rodrigues CL, Rizzutto M de A, Silva TF da, Mayer BM, Added N, Rizzutto M de A, Tabacniks MH. Elemental thin film depth profiles by using self-consistent ion beam analysis – MultiSIMNRA: a new computational tool [Internet]. Posters - Resumo. 2016 ;[citado 2024 out. 10 ] Available from: http://www1.sbfisica.org.br/eventos/enf/2016/sys/resumos/R1935-1.pdf
Vancouver
Rodrigues CL, Rizzutto M de A, Silva TF da, Mayer BM, Added N, Rizzutto M de A, Tabacniks MH. Elemental thin film depth profiles by using self-consistent ion beam analysis – MultiSIMNRA: a new computational tool [Internet]. Posters - Resumo. 2016 ;[citado 2024 out. 10 ] Available from: http://www1.sbfisica.org.br/eventos/enf/2016/sys/resumos/R1935-1.pdf

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