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  • Unidade: EP

    Assuntos: CIRCUITOS INTEGRADOS MOS, MICROELETRÔNICA

    Acesso à fonteComo citar
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    • ABNT

      AGOPIAN, Paula Ghedini Der. Estudo do efeito de elevação atípica da transcondutância na região linear de polarização em dispositivos SOI nMOSFETs ultra-submicrométricos. 2008. Tese (Doutorado) – Universidade de São Paulo, São Paulo, 2008. Disponível em: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/3/3140/tde-09022009-190025/. Acesso em: 29 jun. 2024.
    • APA

      Agopian, P. G. D. (2008). Estudo do efeito de elevação atípica da transcondutância na região linear de polarização em dispositivos SOI nMOSFETs ultra-submicrométricos (Tese (Doutorado). Universidade de São Paulo, São Paulo. Recuperado de http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/3/3140/tde-09022009-190025/
    • NLM

      Agopian PGD. Estudo do efeito de elevação atípica da transcondutância na região linear de polarização em dispositivos SOI nMOSFETs ultra-submicrométricos [Internet]. 2008 ;[citado 2024 jun. 29 ] Available from: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/3/3140/tde-09022009-190025/
    • Vancouver

      Agopian PGD. Estudo do efeito de elevação atípica da transcondutância na região linear de polarização em dispositivos SOI nMOSFETs ultra-submicrométricos [Internet]. 2008 ;[citado 2024 jun. 29 ] Available from: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/3/3140/tde-09022009-190025/
  • Unidade: EP

    Assuntos: DISPOSITIVOS ELETRÔNICOS, TRANSISTORES (CARACTERÍSTICAS)

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    • ABNT

      AGOPIAN, Paula Ghedini Der. Análise do funcionamento dos dispositivos GC SOI MOSFET em baixas temperaturas. 2003. Dissertação (Mestrado) – Universidade de São Paulo, São Paulo, 2003. . Acesso em: 29 jun. 2024.
    • APA

      Agopian, P. G. D. (2003). Análise do funcionamento dos dispositivos GC SOI MOSFET em baixas temperaturas (Dissertação (Mestrado). Universidade de São Paulo, São Paulo.
    • NLM

      Agopian PGD. Análise do funcionamento dos dispositivos GC SOI MOSFET em baixas temperaturas. 2003 ;[citado 2024 jun. 29 ]
    • Vancouver

      Agopian PGD. Análise do funcionamento dos dispositivos GC SOI MOSFET em baixas temperaturas. 2003 ;[citado 2024 jun. 29 ]

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