Apollom: an automated approach to identify semiconductor properties (2019)
Nardi, Paulo Augusto; Aouada, Fauze Ahmad; Moura, Ana Paula de; Siu Li, Máximo 
Source: Program. Conference titles: Brazilian MRS Meeting. Unidade: IFSC
Subjects: SEMICONDUTORES, ZIRCÔNIA
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ABNT
NARDI, Paulo Augusto et al. Apollom: an automated approach to identify semiconductor properties. 2019, Anais.. Rio de Janeiro: Sociedade Brasileira de Pesquisa em Materiais - SBPMat, 2019. . Acesso em: 13 nov. 2024.APA
Nardi, P. A., Aouada, F. A., Moura, A. P. de, & Siu Li, M. (2019). Apollom: an automated approach to identify semiconductor properties. In Program. Rio de Janeiro: Sociedade Brasileira de Pesquisa em Materiais - SBPMat.NLM
Nardi PA, Aouada FA, Moura AP de, Siu Li M. Apollom: an automated approach to identify semiconductor properties. Program. 2019 ;[citado 2024 nov. 13 ]Vancouver
Nardi PA, Aouada FA, Moura AP de, Siu Li M. Apollom: an automated approach to identify semiconductor properties. Program. 2019 ;[citado 2024 nov. 13 ]
