Apollom: an automated approach to identify semiconductor properties (2019)
- Authors:
- Autor USP: LI, MAXIMO SIU - IFSC
- Unidade: IFSC
- Subjects: SEMICONDUTORES; ZIRCÔNIA
- Agências de fomento:
- Language: Inglês
- Imprenta:
- Publisher: Sociedade Brasileira de Pesquisa em Materiais - SBPMat
- Publisher place: Rio de Janeiro
- Date published: 2019
- Source:
- Título: Program
- Conference titles: Brazilian MRS Meeting
-
ABNT
NARDI, Paulo Augusto et al. Apollom: an automated approach to identify semiconductor properties. 2019, Anais.. Rio de Janeiro: Sociedade Brasileira de Pesquisa em Materiais - SBPMat, 2019. . Acesso em: 25 jan. 2026. -
APA
Nardi, P. A., Aouada, F. A., Moura, A. P. de, & Siu Li, M. (2019). Apollom: an automated approach to identify semiconductor properties. In Program. Rio de Janeiro: Sociedade Brasileira de Pesquisa em Materiais - SBPMat. -
NLM
Nardi PA, Aouada FA, Moura AP de, Siu Li M. Apollom: an automated approach to identify semiconductor properties. Program. 2019 ;[citado 2026 jan. 25 ] -
Vancouver
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