Stability and accuracy control of k . p parameters (2016)
Bastos, Carlos M. O.; Sabino, Fernando P.; Faria Junior, Paulo E.; Campos, Tiago; Silva, Juarez Lopes Ferreira da 
; Sipahi, Guilherme Matos
Source: Semiconductor Science and Technology. Unidades: IQSC, IFSC
Subjects: SEMICONDUTORES, MATERIAIS NANOESTRUTURADOS, SPIN, SISTEMAS HAMILTONIANOS
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ABNT
BASTOS, Carlos M. O. et al. Stability and accuracy control of k . p parameters. Semiconductor Science and Technology, v. 31, n. 10, p. 105002-1-105002-10, 2016Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1088/0268-1242/31/10/105002. Acesso em: 16 nov. 2024.APA
Bastos, C. M. O., Sabino, F. P., Faria Junior, P. E., Campos, T., Silva, J. L. F. da, & Sipahi, G. M. (2016). Stability and accuracy control of k . p parameters. Semiconductor Science and Technology, 31( 10), 105002-1-105002-10. doi:10.1088/0268-1242/31/10/105002NLM
Bastos CMO, Sabino FP, Faria Junior PE, Campos T, Silva JLF da, Sipahi GM. Stability and accuracy control of k . p parameters [Internet]. Semiconductor Science and Technology. 2016 ; 31( 10): 105002-1-105002-10.[citado 2024 nov. 16 ] Available from: https://doi.org/10.1088/0268-1242/31/10/105002Vancouver
Bastos CMO, Sabino FP, Faria Junior PE, Campos T, Silva JLF da, Sipahi GM. Stability and accuracy control of k . p parameters [Internet]. Semiconductor Science and Technology. 2016 ; 31( 10): 105002-1-105002-10.[citado 2024 nov. 16 ] Available from: https://doi.org/10.1088/0268-1242/31/10/105002
