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Artigo de periodico
Water film thickness measurement system for oil-water pipe flow (2019)
Bonilla Riaño, Adriana; Velasco Peña, Hugo Fernando; Bannwart, Antonio Carlos; Prasser, H. M.; Hernandez Rodriguez, Oscar Mauricio
Source: Flow Measurement and Instrumentation. Unidade: EESC
Subjects: FLUXO DOS LÍQUIDOS, FILMES FINOS, ENGENHARIA MECÂNICA
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
BONILLA RIAÑO, Adriana et al. Water film thickness measurement system for oil-water pipe flow. Flow Measurement and Instrumentation, v. 66, p. 86-98, 2019Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1016/j.flowmeasinst.2019.02.007. Acesso em: 10 nov. 2024.
APA
Bonilla Riaño, A., Velasco Peña, H. F., Bannwart, A. C., Prasser, H. M., & Hernandez Rodriguez, O. M. (2019). Water film thickness measurement system for oil-water pipe flow. Flow Measurement and Instrumentation, 66, 86-98. doi:10.1016/j.flowmeasinst.2019.02.007
NLM
Bonilla Riaño A, Velasco Peña HF, Bannwart AC, Prasser HM, Hernandez Rodriguez OM. Water film thickness measurement system for oil-water pipe flow [Internet]. Flow Measurement and Instrumentation. 2019 ; 66 86-98.[citado 2024 nov. 10 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.flowmeasinst.2019.02.007
Vancouver
Bonilla Riaño A, Velasco Peña HF, Bannwart AC, Prasser HM, Hernandez Rodriguez OM. Water film thickness measurement system for oil-water pipe flow [Internet]. Flow Measurement and Instrumentation. 2019 ; 66 86-98.[citado 2024 nov. 10 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.flowmeasinst.2019.02.007
Trabalho de evento
Film thickness measurement system using FPGA technology (2015)
Bonilla Riaño, Adriana; Bannwart, Antonio Carlos; Velasco Peña, Hugo Fernando; Hernandez Rodriguez, Oscar Mauricio
Source: Proceedings. Conference titles: Symposium on Signal Processing, Images and Computer Vision - STSIVA. Unidade: EESC
Subjects: FILMES FINOS, FLUXO DOS LÍQUIDOS, ESCOAMENTO, ENGENHARIA MECÂNICA
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
BONILLA RIAÑO, Adriana et al. Film thickness measurement system using FPGA technology. 2015, Anais.. Piscataway, NJ, USA: IEEE, 2015. Disponível em: https://doi.org/10.1109/STSIVA.2015.7330426. Acesso em: 10 nov. 2024.
APA
Bonilla Riaño, A., Bannwart, A. C., Velasco Peña, H. F., & Hernandez Rodriguez, O. M. (2015). Film thickness measurement system using FPGA technology. In Proceedings. Piscataway, NJ, USA: IEEE. doi:10.1109/STSIVA.2015.7330426
NLM
Bonilla Riaño A, Bannwart AC, Velasco Peña HF, Hernandez Rodriguez OM. Film thickness measurement system using FPGA technology [Internet]. Proceedings. 2015 ;[citado 2024 nov. 10 ] Available from: https://doi.org/10.1109/STSIVA.2015.7330426
Vancouver
Bonilla Riaño A, Bannwart AC, Velasco Peña HF, Hernandez Rodriguez OM. Film thickness measurement system using FPGA technology [Internet]. Proceedings. 2015 ;[citado 2024 nov. 10 ] Available from: https://doi.org/10.1109/STSIVA.2015.7330426

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