Film thickness measurement system using FPGA technology

Film thickness measurement system using FPGA technology (2015)

Authors:
USP affiliated authors: RODRIGUEZ, OSCAR MAURICIO HERNANDEZ - EESC ; PEÑA, HUGO FERNANDO VELASCO - EESC
Unidade: EESC
DOI: 10.1109/STSIVA.2015.7330426
Subjects: FILMES FINOS; FLUXO DOS LÍQUIDOS; ESCOAMENTO; ENGENHARIA MECÂNICA
Language: Inglês
Imprenta:
- Publisher: IEEE
- Publisher place: Piscataway, NJ, USA
- Date published: 2015
Source:
- Título: Proceedings
Conference titles: Symposium on Signal Processing, Images and Computer Vision - STSIVA

Informações sobre o DOI: 10.1109/STSIVA.2015.7330426 (Fonte: oaDOI API)

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ABNT

BONILLA RIAÑO, Adriana et al. Film thickness measurement system using FPGA technology. 2015, Anais.. Piscataway, NJ, USA: IEEE, 2015. Disponível em: https://doi.org/10.1109/STSIVA.2015.7330426. Acesso em: 29 dez. 2025.
APA

Bonilla Riaño, A., Bannwart, A. C., Velasco Peña, H. F., & Hernandez Rodriguez, O. M. (2015). Film thickness measurement system using FPGA technology. In Proceedings. Piscataway, NJ, USA: IEEE. doi:10.1109/STSIVA.2015.7330426
NLM

Bonilla Riaño A, Bannwart AC, Velasco Peña HF, Hernandez Rodriguez OM. Film thickness measurement system using FPGA technology [Internet]. Proceedings. 2015 ;[citado 2025 dez. 29 ] Available from: https://doi.org/10.1109/STSIVA.2015.7330426
Vancouver

Bonilla Riaño A, Bannwart AC, Velasco Peña HF, Hernandez Rodriguez OM. Film thickness measurement system using FPGA technology [Internet]. Proceedings. 2015 ;[citado 2025 dez. 29 ] Available from: https://doi.org/10.1109/STSIVA.2015.7330426