X-ray diffractometry in solid-state reaction's route determination (1995)
Fonte: Informatica e Telecomunicacoes: Anais. Nome do evento: Simposio Nipo-Brasileiro de Ciencia e Tecnologia. Unidade: IFSC
Assunto: FÍSICA DA MATÉRIA CONDENSADA
ABNT
BASSO, Heitor Cury e FERRAZ, M C e MASCARENHAS, Yvonne Primerano. X-ray diffractometry in solid-state reaction's route determination. 1995, Anais.. Sao Paulo: Aciesp/Sbpn, 1995. . Acesso em: 07 set. 2024.APA
Basso, H. C., Ferraz, M. C., & Mascarenhas, Y. P. (1995). X-ray diffractometry in solid-state reaction's route determination. In Informatica e Telecomunicacoes: Anais. Sao Paulo: Aciesp/Sbpn.NLM
Basso HC, Ferraz MC, Mascarenhas YP. X-ray diffractometry in solid-state reaction's route determination. Informatica e Telecomunicacoes: Anais. 1995 ;[citado 2024 set. 07 ]Vancouver
Basso HC, Ferraz MC, Mascarenhas YP. X-ray diffractometry in solid-state reaction's route determination. Informatica e Telecomunicacoes: Anais. 1995 ;[citado 2024 set. 07 ]