X-ray diffractometry in solid-state reaction's route determination (1995)
- Authors:
- USP affiliated authors: MASCARENHAS, YVONNE PRIMERANO - IFSC ; BASSO, HEITOR CURY - IFSC
- Unidade: IFSC
- Assunto: FÍSICA DA MATÉRIA CONDENSADA
- Language: Inglês
- Imprenta:
- Publisher: Aciesp/Sbpn
- Publisher place: Sao Paulo
- Date published: 1995
- Source:
- Título do periódico: Informatica e Telecomunicacoes: Anais
- Conference titles: Simposio Nipo-Brasileiro de Ciencia e Tecnologia
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ABNT
BASSO, Heitor Cury e FERRAZ, M C e MASCARENHAS, Yvonne Primerano. X-ray diffractometry in solid-state reaction's route determination. 1995, Anais.. Sao Paulo: Aciesp/Sbpn, 1995. . Acesso em: 29 mar. 2024. -
APA
Basso, H. C., Ferraz, M. C., & Mascarenhas, Y. P. (1995). X-ray diffractometry in solid-state reaction's route determination. In Informatica e Telecomunicacoes: Anais. Sao Paulo: Aciesp/Sbpn. -
NLM
Basso HC, Ferraz MC, Mascarenhas YP. X-ray diffractometry in solid-state reaction's route determination. Informatica e Telecomunicacoes: Anais. 1995 ;[citado 2024 mar. 29 ] -
Vancouver
Basso HC, Ferraz MC, Mascarenhas YP. X-ray diffractometry in solid-state reaction's route determination. Informatica e Telecomunicacoes: Anais. 1995 ;[citado 2024 mar. 29 ] - Método de Rietveld aplicado ao estudo da reação de formação do 'Y IND. 2''BA''CU''O IND. 5'
- Estudo da cinetica de reacao de formacao do y'BA''CU'o utilizando o metodo de rietveld
- Crescimento e determinacao de estrutura de monocristais de 'BA''CU''O IND.2'
- Metodo de Rietveld
- Caracterizacao de materiais de interesse tecnologico utilizando-se raios x: zirconia
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- Caracterizacao de materiais de interesse tecnologico utilizando-se raios-x: supercondutores
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- Study of Y'Ba IND.2''Cu IND.3''O IND.7-x' reaction kinetics by Rietveld method
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