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  • Trabalho de evento-resumo

    Probing charge density in organic transistors by Charge Modulation Microscopy (CMM) (2018)

    Gomes, Douglas José Correia; Pace, Giuseppina; Caironi, Mario; Miranda, Paulo Barbeitas

    Fonte: Program. Nome do evento: Brazilian MRS Meeting. Unidade: IFSC

    Assuntos: POLÍMEROS (MATERIAIS), SEMICONDUTORES, FILMES FINOS

    Acesso à fonteComo citar
    A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas

    • ABNT

      GOMES, Douglas José Correia et al. Probing charge density in organic transistors by Charge Modulation Microscopy (CMM). 2018, Anais.. Rio de Janeiro: Sociedade Brasileira de Pesquisa em Materiais - SBPMat, 2018. Disponível em: https://new.eventweb.com.br/xviisbpmat/specific-files/grabFile.php?codigo=4GGW. Acesso em: 13 jul. 2024.

    • APA

      Gomes, D. J. C., Pace, G., Caironi, M., & Miranda, P. B. (2018). Probing charge density in organic transistors by Charge Modulation Microscopy (CMM). In Program. Rio de Janeiro: Sociedade Brasileira de Pesquisa em Materiais - SBPMat. Recuperado de https://new.eventweb.com.br/xviisbpmat/specific-files/grabFile.php?codigo=4GGW

    • NLM

      Gomes DJC, Pace G, Caironi M, Miranda PB. Probing charge density in organic transistors by Charge Modulation Microscopy (CMM) [Internet]. Program. 2018 ;[citado 2024 jul. 13 ] Available from: https://new.eventweb.com.br/xviisbpmat/specific-files/grabFile.php?codigo=4GGW

    • Vancouver

      Gomes DJC, Pace G, Caironi M, Miranda PB. Probing charge density in organic transistors by Charge Modulation Microscopy (CMM) [Internet]. Program. 2018 ;[citado 2024 jul. 13 ] Available from: https://new.eventweb.com.br/xviisbpmat/specific-files/grabFile.php?codigo=4GGW

  • Trabalho de evento-resumo

    Using sum-frequency generation (SFG) to probe electric-fields within organic field-effect transistors (2017)

    Gomes, Douglas José Correia; Motti, Silvia Genaro; Miranda, Paulo Barbeitas

    Fonte: Program Book. Nome do evento: Brazilian MRS Meeting. Unidade: IFSC

    Assuntos: TRANSISTORES, DIELÉTRICOS

    Acesso à fonteComo citar
    A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas

    • ABNT

      GOMES, Douglas José Correia e MOTTI, Silvia Genaro e MIRANDA, Paulo Barbeitas. Using sum-frequency generation (SFG) to probe electric-fields within organic field-effect transistors. 2017, Anais.. Rio de Janeiro: Sociedade Brasileira de Pesquisa em Materiais - SBPMat, 2017. Disponível em: http://www.eventweb.com.br/xvisbpmat/specific-files/grabFile.php?codigo=BPWV. Acesso em: 13 jul. 2024.

    • APA

      Gomes, D. J. C., Motti, S. G., & Miranda, P. B. (2017). Using sum-frequency generation (SFG) to probe electric-fields within organic field-effect transistors. In Program Book. Rio de Janeiro: Sociedade Brasileira de Pesquisa em Materiais - SBPMat. Recuperado de http://www.eventweb.com.br/xvisbpmat/specific-files/grabFile.php?codigo=BPWV

    • NLM

      Gomes DJC, Motti SG, Miranda PB. Using sum-frequency generation (SFG) to probe electric-fields within organic field-effect transistors [Internet]. Program Book. 2017 ;[citado 2024 jul. 13 ] Available from: http://www.eventweb.com.br/xvisbpmat/specific-files/grabFile.php?codigo=BPWV

    • Vancouver

      Gomes DJC, Motti SG, Miranda PB. Using sum-frequency generation (SFG) to probe electric-fields within organic field-effect transistors [Internet]. Program Book. 2017 ;[citado 2024 jul. 13 ] Available from: http://www.eventweb.com.br/xvisbpmat/specific-files/grabFile.php?codigo=BPWV
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