Nozaki, Ricardo; Navarro, Hélio Aparecido; Balthazar, José Manoel; Tusset, Angelo Marcelo; Silva, Marcelo de Assumpção Pereira da 
; Brasil, Reyolando Manoel Lopes Rebello da Fonseca
Source: Anais. Conference titles: Congresso Nacional de Engenharia Mecânica - CONEM. Unidades: EESC, IFSC, EP
Subjects: CAOS (SISTEMAS DINÂMICOS), ANÁLISE DE SÉRIES TEMPORAIS, MICROSCOPIA
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ABNT
NOZAKI, Ricardo et al. Sinais gerados por um sensor que capta as deflecções de uma microviga, com comportamento não linear, de um microscópio de força atômica. 2014, Anais.. Rio de Janeiro: Associação Brasileira de Engenharia e Ciências Mecânicas - ABCM, 2014. Disponível em: http://www.conem2014.com.br/ANAIS/PDFS/CONEM2014-0315.PDF. Acesso em: 03 nov. 2024.APA
Nozaki, R., Navarro, H. A., Balthazar, J. M., Tusset, A. M., Silva, M. de A. P. da, & Brasil, R. M. L. R. da F. (2014). Sinais gerados por um sensor que capta as deflecções de uma microviga, com comportamento não linear, de um microscópio de força atômica. In Anais. Rio de Janeiro: Associação Brasileira de Engenharia e Ciências Mecânicas - ABCM. Recuperado de http://www.conem2014.com.br/ANAIS/PDFS/CONEM2014-0315.PDFNLM
Nozaki R, Navarro HA, Balthazar JM, Tusset AM, Silva M de AP da, Brasil RMLR da F. Sinais gerados por um sensor que capta as deflecções de uma microviga, com comportamento não linear, de um microscópio de força atômica [Internet]. Anais. 2014 ;[citado 2024 nov. 03 ] Available from: http://www.conem2014.com.br/ANAIS/PDFS/CONEM2014-0315.PDFVancouver
Nozaki R, Navarro HA, Balthazar JM, Tusset AM, Silva M de AP da, Brasil RMLR da F. Sinais gerados por um sensor que capta as deflecções de uma microviga, com comportamento não linear, de um microscópio de força atômica [Internet]. Anais. 2014 ;[citado 2024 nov. 03 ] Available from: http://www.conem2014.com.br/ANAIS/PDFS/CONEM2014-0315.PDF
