Sinais gerados por um sensor que capta as deflecções de uma microviga, com comportamento não linear, de um microscópio de força atômica (2014)
- Authors:
- Nozaki, Ricardo
- Navarro, Hélio Aparecido
- Balthazar, José Manoel - Universidade Estadual Paulista Júlio de Mesquita Filho (UNESP)
- Tusset, Angelo Marcelo - Universidade Tecnológica Federal do Paraná (UTFPR)
- Silva, Marcelo de Assumpção Pereira da - Centro Universitário Central Paulista (UNICEP)
- Brasil, Reyolando Manoel Lopes Rebello da Fonseca
- USP affiliated authors: NAVARRO, HELIO APARECIDO - EESC ; SILVA, MARCELO DE ASSUMPCAO PEREIRA DA - IFSC ; BRASIL, REYOLANDO MANOEL LOPES REBELLO DA FONSECA - EP
- Unidades: EESC; IFSC; EP
- Subjects: CAOS (SISTEMAS DINÂMICOS); ANÁLISE DE SÉRIES TEMPORAIS; MICROSCOPIA
- Language: Português
- Imprenta:
- Publisher: Associação Brasileira de Engenharia e Ciências Mecânicas - ABCM
- Publisher place: Rio de Janeiro
- Date published: 2014
- Source:
- Conference titles: Congresso Nacional de Engenharia Mecânica - CONEM
-
ABNT
NOZAKI, Ricardo et al. Sinais gerados por um sensor que capta as deflecções de uma microviga, com comportamento não linear, de um microscópio de força atômica. 2014, Anais.. Rio de Janeiro: Associação Brasileira de Engenharia e Ciências Mecânicas - ABCM, 2014. Disponível em: http://www.conem2014.com.br/ANAIS/PDFS/CONEM2014-0315.PDF. Acesso em: 21 out. 2024. -
APA
Nozaki, R., Navarro, H. A., Balthazar, J. M., Tusset, A. M., Silva, M. de A. P. da, & Brasil, R. M. L. R. da F. (2014). Sinais gerados por um sensor que capta as deflecções de uma microviga, com comportamento não linear, de um microscópio de força atômica. In Anais. Rio de Janeiro: Associação Brasileira de Engenharia e Ciências Mecânicas - ABCM. Recuperado de http://www.conem2014.com.br/ANAIS/PDFS/CONEM2014-0315.PDF -
NLM
Nozaki R, Navarro HA, Balthazar JM, Tusset AM, Silva M de AP da, Brasil RMLR da F. Sinais gerados por um sensor que capta as deflecções de uma microviga, com comportamento não linear, de um microscópio de força atômica [Internet]. Anais. 2014 ;[citado 2024 out. 21 ] Available from: http://www.conem2014.com.br/ANAIS/PDFS/CONEM2014-0315.PDF -
Vancouver
Nozaki R, Navarro HA, Balthazar JM, Tusset AM, Silva M de AP da, Brasil RMLR da F. Sinais gerados por um sensor que capta as deflecções de uma microviga, com comportamento não linear, de um microscópio de força atômica [Internet]. Anais. 2014 ;[citado 2024 out. 21 ] Available from: http://www.conem2014.com.br/ANAIS/PDFS/CONEM2014-0315.PDF - Signals generated by a sensor that captures the cantilever deflection of the atomic force microscope with nonlinear behavior
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