ReP USP - Resultado da busca

Artigo de periodico
Performance perspective of gate-all-around double nanosheet CMOS beyond high-speed logic applications (2022)
Simoen, Eddy ; Coelho, Carlos Henrique Santos; Silva, Vanessa Cristina Pereira da; Martino, João Antonio ; Agopian, Paula Ghedini Der ; Oliveira, Alberto; Cretu, Bogdan; Veloso, Anabela
Source: Journal of Integrated Circuits and Systems. Unidades: EP, EESC
Subjects: TRANSISTORES, NANOELETRÔNICA, TEMPERATURA
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
SIMOEN, Eddy et al. Performance perspective of gate-all-around double nanosheet CMOS beyond high-speed logic applications. Journal of Integrated Circuits and Systems, v. 17, n. 2, p. 1-9, 2022Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.29292/jics.v17i2.617. Acesso em: 13 nov. 2024.
APA
Simoen, E., Coelho, C. H. S., Silva, V. C. P. da, Martino, J. A., Agopian, P. G. D., Oliveira, A., et al. (2022). Performance perspective of gate-all-around double nanosheet CMOS beyond high-speed logic applications. Journal of Integrated Circuits and Systems, 17( 2), 1-9. doi:10.29292/jics.v17i2.617
NLM
Simoen E, Coelho CHS, Silva VCP da, Martino JA, Agopian PGD, Oliveira A, Cretu B, Veloso A. Performance perspective of gate-all-around double nanosheet CMOS beyond high-speed logic applications [Internet]. Journal of Integrated Circuits and Systems. 2022 ; 17( 2): 1-9.[citado 2024 nov. 13 ] Available from: https://doi.org/10.29292/jics.v17i2.617
Vancouver
Simoen E, Coelho CHS, Silva VCP da, Martino JA, Agopian PGD, Oliveira A, Cretu B, Veloso A. Performance perspective of gate-all-around double nanosheet CMOS beyond high-speed logic applications [Internet]. Journal of Integrated Circuits and Systems. 2022 ; 17( 2): 1-9.[citado 2024 nov. 13 ] Available from: https://doi.org/10.29292/jics.v17i2.617
Trabalho de evento-anais periodico
The structural properties of the protective layer of microlamps under polarization (2017)
Cassimiro, Vinicius Roberto de Sylos; Fantini, Márcia Carvalho de Abreu ; Pereyra, Inés ; Páez Carreño, Marcelo Nelson ; Alayo Chávez, Marco Isaías ; Rehder, Gustavo Pamplona ; Cunha Junior, Rubens Martins; Trcera, Nicolas
Source: Proceedings Science BWSP. Conference titles: Brazilian Workshop on Semiconductor Physics. Unidades: IF, EP
Subjects: CRISTALOGRAFIA FÍSICA, FILMES FINOS, ESPECTROSCOPIA DE RAIO X
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
CASSIMIRO, Vinicius Roberto de Sylos et al. The structural properties of the protective layer of microlamps under polarization. Proceedings Science BWSP. São Paulo: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. Disponível em: https://doi.org/10.17648/bwsp-2017-70051. Acesso em: 13 nov. 2024. , 2017
APA
Cassimiro, V. R. de S., Fantini, M. C. de A., Pereyra, I., Páez Carreño, M. N., Alayo Chávez, M. I., Rehder, G. P., et al. (2017). The structural properties of the protective layer of microlamps under polarization. Proceedings Science BWSP. São Paulo: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. doi:10.17648/bwsp-2017-70051
NLM
Cassimiro VR de S, Fantini MC de A, Pereyra I, Páez Carreño MN, Alayo Chávez MI, Rehder GP, Cunha Junior RM, Trcera N. The structural properties of the protective layer of microlamps under polarization [Internet]. Proceedings Science BWSP. 2017 ; 1 4 .[citado 2024 nov. 13 ] Available from: https://doi.org/10.17648/bwsp-2017-70051
Vancouver
Cassimiro VR de S, Fantini MC de A, Pereyra I, Páez Carreño MN, Alayo Chávez MI, Rehder GP, Cunha Junior RM, Trcera N. The structural properties of the protective layer of microlamps under polarization [Internet]. Proceedings Science BWSP. 2017 ; 1 4 .[citado 2024 nov. 13 ] Available from: https://doi.org/10.17648/bwsp-2017-70051
Trabalho de evento-resumo
Mapeamento micromagnético através do microscópio óptico de varredura em campo próximo (2007)
Pojar, Mariana; Santos, Antonio Domingues dos; Romero, Sérgio; Lancarotte, Marcelo Shiroma ; Seabra, Antonio Carlos ; Souche, Yves
Conference titles: Encontro Nacional de Física da Matéria Condensada. Unidades: IF, EP
Subjects: MICROSCOPIA ELETRÔNICA DE VARREDURA, MICROSCÓPIO ÓTICO
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
POJAR, Mariana et al. Mapeamento micromagnético através do microscópio óptico de varredura em campo próximo. 2007, Anais.. São Paulo: SBF, 2007. Disponível em: http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xxx/sys/resumos/R1162-1.pdf. Acesso em: 13 nov. 2024.
APA
Pojar, M., Santos, A. D. dos, Romero, S., Lancarotte, M. S., Seabra, A. C., & Souche, Y. (2007). Mapeamento micromagnético através do microscópio óptico de varredura em campo próximo. In . São Paulo: SBF. Recuperado de http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xxx/sys/resumos/R1162-1.pdf
NLM
Pojar M, Santos AD dos, Romero S, Lancarotte MS, Seabra AC, Souche Y. Mapeamento micromagnético através do microscópio óptico de varredura em campo próximo [Internet]. 2007 ;[citado 2024 nov. 13 ] Available from: http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xxx/sys/resumos/R1162-1.pdf
Vancouver
Pojar M, Santos AD dos, Romero S, Lancarotte MS, Seabra AC, Souche Y. Mapeamento micromagnético através do microscópio óptico de varredura em campo próximo [Internet]. 2007 ;[citado 2024 nov. 13 ] Available from: http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xxx/sys/resumos/R1162-1.pdf
Trabalho de evento-resumo
Magnetic properties on micrometric objects (2006)
Seabra, Antonio Carlos ; Santos, Antonio Domingues dos; Pojar, Mariana ; Schoenmaker, Jeroen ; Romero, Sergio Antonio; Souche, Yves
Source: Oral Session. Conference titles: Encontro da Sociedade Brasileira de Pesquisas em Materiais (SBPMat). Unidades: EP, IF
Subjects: MATERIAIS (PESQUISA), MAGNETISMO
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
SEABRA, Antonio Carlos et al. Magnetic properties on micrometric objects. 2006, Anais.. Rio de Janeiro: SBPMat, 2006. Disponível em: http://www.sbpmat.org.br/5encontro/SympM.pdf. Acesso em: 13 nov. 2024.
APA
Seabra, A. C., Santos, A. D. dos, Pojar, M., Schoenmaker, J., Romero, S. A., & Souche, Y. (2006). Magnetic properties on micrometric objects. In Oral Session. Rio de Janeiro: SBPMat. Recuperado de http://www.sbpmat.org.br/5encontro/SympM.pdf
NLM
Seabra AC, Santos AD dos, Pojar M, Schoenmaker J, Romero SA, Souche Y. Magnetic properties on micrometric objects [Internet]. Oral Session. 2006 ;[citado 2024 nov. 13 ] Available from: http://www.sbpmat.org.br/5encontro/SympM.pdf
Vancouver
Seabra AC, Santos AD dos, Pojar M, Schoenmaker J, Romero SA, Souche Y. Magnetic properties on micrometric objects [Internet]. Oral Session. 2006 ;[citado 2024 nov. 13 ] Available from: http://www.sbpmat.org.br/5encontro/SympM.pdf
Trabalho de evento-resumo
Processamento de sondas de varredura para MO-SNOM (2004)
Schoenmaker, Jeroen ; Lancarotte, Marcelo Shiroma ; Seabra, Antonio Carlos ; Santos, Antonio Domingues dos; Souche, Yves
Source: Resumos. Conference titles: Encontro Nacional de Fisica da Materia Condensada. Unidades: IF, EP
Subjects: MATÉRIA CONDENSADA, MICROSCOPIA ELETRÔNICA, MICROSCOPIA ELETRÔNICA DE VARREDURA
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
SCHOENMAKER, Jeroen et al. Processamento de sondas de varredura para MO-SNOM. 2004, Anais.. São Paulo: SBF, 2004. Disponível em: http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xxvii/sys/resumos/R1176-3.pdf. Acesso em: 13 nov. 2024.
APA
Schoenmaker, J., Lancarotte, M. S., Seabra, A. C., Santos, A. D. dos, & Souche, Y. (2004). Processamento de sondas de varredura para MO-SNOM. In Resumos. São Paulo: SBF. Recuperado de http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xxvii/sys/resumos/R1176-3.pdf
NLM
Schoenmaker J, Lancarotte MS, Seabra AC, Santos AD dos, Souche Y. Processamento de sondas de varredura para MO-SNOM [Internet]. Resumos. 2004 ;[citado 2024 nov. 13 ] Available from: http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xxvii/sys/resumos/R1176-3.pdf
Vancouver
Schoenmaker J, Lancarotte MS, Seabra AC, Santos AD dos, Souche Y. Processamento de sondas de varredura para MO-SNOM [Internet]. Resumos. 2004 ;[citado 2024 nov. 13 ] Available from: http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xxvii/sys/resumos/R1176-3.pdf
Trabalho de evento
Study of the deep-submicron SOI MOSFET leakage current behavior at high temperatures (2000)
Bellodi, Marcello; Iniguez, Benjamin; Raynaud, Cristine; Flandre, Denis ; Martino, João Antonio
Source: SBMicro 2000: proceedings. Conference titles: International Conference on Microelectronics and Packaging. Unidade: EP
Assunto: CIRCUITOS INTEGRADOS
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
BELLODI, Marcello et al. Study of the deep-submicron SOI MOSFET leakage current behavior at high temperatures. 2000, Anais.. Manaus: SBMicro/UA/UFRGS/UNICAMP/USP, 2000. . Acesso em: 13 nov. 2024.
APA
Bellodi, M., Iniguez, B., Raynaud, C., Flandre, D., & Martino, J. A. (2000). Study of the deep-submicron SOI MOSFET leakage current behavior at high temperatures. In SBMicro 2000: proceedings. Manaus: SBMicro/UA/UFRGS/UNICAMP/USP.
NLM
Bellodi M, Iniguez B, Raynaud C, Flandre D, Martino JA. Study of the deep-submicron SOI MOSFET leakage current behavior at high temperatures. SBMicro 2000: proceedings. 2000 ;[citado 2024 nov. 13 ]
Vancouver
Bellodi M, Iniguez B, Raynaud C, Flandre D, Martino JA. Study of the deep-submicron SOI MOSFET leakage current behavior at high temperatures. SBMicro 2000: proceedings. 2000 ;[citado 2024 nov. 13 ]

USP Schools

ReP

Filtros

Authors

USP affiliated authors

Date published

Subjects

Source title

Conference titles

Non normalized affiliation