Apollom: an automated approach to identify semiconductor properties (2019)
Fonte: Program. Nome do evento: Brazilian MRS Meeting. Unidade: IFSC
Assuntos: SEMICONDUTORES, ZIRCÔNIA
ABNT
NARDI, Paulo Augusto et al. Apollom: an automated approach to identify semiconductor properties. 2019, Anais.. Rio de Janeiro: Sociedade Brasileira de Pesquisa em Materiais - SBPMat, 2019. . Acesso em: 02 nov. 2024.APA
Nardi, P. A., Aouada, F. A., Moura, A. P. de, & Siu Li, M. (2019). Apollom: an automated approach to identify semiconductor properties. In Program. Rio de Janeiro: Sociedade Brasileira de Pesquisa em Materiais - SBPMat.NLM
Nardi PA, Aouada FA, Moura AP de, Siu Li M. Apollom: an automated approach to identify semiconductor properties. Program. 2019 ;[citado 2024 nov. 02 ]Vancouver
Nardi PA, Aouada FA, Moura AP de, Siu Li M. Apollom: an automated approach to identify semiconductor properties. Program. 2019 ;[citado 2024 nov. 02 ]