Uso de cristais fotorrefrativos para medida de vibrações e deformações (1998)
Frejlich, Jaime; Garcia, Paulo M; Hernandes, Antônio Carlos 
; Carvalho, Jesiel Freitas
Source: Anais de Óptica. Conference titles: Encontro Nacional de Física da Matéria Condensada. Unidade: IFSC
Subjects: FÍSICA DA MATÉRIA CONDENSADA, MATÉRIA CONDENSADA
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ABNT
FREJLICH, Jaime et al. Uso de cristais fotorrefrativos para medida de vibrações e deformações. 1998, Anais.. São Paulo: Sociedade Brasileira de Física, 1998. . Acesso em: 04 nov. 2024.APA
Frejlich, J., Garcia, P. M., Hernandes, A. C., & Carvalho, J. F. (1998). Uso de cristais fotorrefrativos para medida de vibrações e deformações. In Anais de Óptica. São Paulo: Sociedade Brasileira de Física.NLM
Frejlich J, Garcia PM, Hernandes AC, Carvalho JF. Uso de cristais fotorrefrativos para medida de vibrações e deformações. Anais de Óptica. 1998 ;[citado 2024 nov. 04 ]Vancouver
Frejlich J, Garcia PM, Hernandes AC, Carvalho JF. Uso de cristais fotorrefrativos para medida de vibrações e deformações. Anais de Óptica. 1998 ;[citado 2024 nov. 04 ]
