Uso de cristais fotorrefrativos para medida de vibrações e deformações (1998)
- Authors:
- USP affiliated author: HERNANDES, ANTONIO CARLOS - IFSC
- School: IFSC
- Subjects: FÍSICA DA MATÉRIA CONDENSADA; MATÉRIA CONDENSADA
- Language: Português
- Imprenta:
- Publisher: Sociedade Brasileira de Física
- Place of publication: São Paulo
- Date published: 1998
- Source:
- Título do periódico: Anais de Óptica
- Conference title: Encontro Nacional de Física da Matéria Condensada
-
ABNT
FREJLICH, Jaime; GARCIA, Paulo M; HERNANDES, Antônio Carlos; CARVALHO, Jesiel Freitas. Uso de cristais fotorrefrativos para medida de vibrações e deformações. Anais.. São Paulo: Sociedade Brasileira de Física, 1998. -
APA
Frejlich, J., Garcia, P. M., Hernandes, A. C., & Carvalho, J. F. (1998). Uso de cristais fotorrefrativos para medida de vibrações e deformações. In Anais de Óptica. São Paulo: Sociedade Brasileira de Física. -
NLM
Frejlich J, Garcia PM, Hernandes AC, Carvalho JF. Uso de cristais fotorrefrativos para medida de vibrações e deformações. Anais de Óptica. 1998 ; -
Vancouver
Frejlich J, Garcia PM, Hernandes AC, Carvalho JF. Uso de cristais fotorrefrativos para medida de vibrações e deformações. Anais de Óptica. 1998 ; - Synthesis and characterization of the microwave ceramics based on complex perovskite (Ba,M)(B',Nb)O3 (M = La, Sr and B' = Ca, Cd)
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