On the variability of the low-frequency noise in UTBOX SOI nMOSFETs (2012)
- Authors:
- Autor USP: ALMEIDA, LUCIANO MENDES - EP
- Unidade: EP
- DOI: 10.1149/04901.0051ecst
- Assunto: MICROELETRÔNICA
- Agências de fomento:
- Language: Inglês
- Imprenta:
- Publisher place: Pennington
- Date published: 2012
- Source:
- Conference titles: International Symposium on Microelectronics Technology and Devices
- Este periódico é de assinatura
- Este artigo NÃO é de acesso aberto
- Cor do Acesso Aberto: closed
-
ABNT
SIMOEN, Eddy et al. On the variability of the low-frequency noise in UTBOX SOI nMOSFETs. 2012, Anais.. Pennington: Escola Politécnica, Universidade de São Paulo, 2012. Disponível em: https://doi.org/10.1149/04901.0051ecst. Acesso em: 06 nov. 2024. -
APA
Simoen, E., Caño de Andrade, M. G., Almeida, L. M., Aoulaiche, M., Caillat, C., Jurczak, M., & Claeys, C. (2012). On the variability of the low-frequency noise in UTBOX SOI nMOSFETs. In Microelectronics technology and devices, SBMicro. Pennington: Escola Politécnica, Universidade de São Paulo. doi:10.1149/04901.0051ecst -
NLM
Simoen E, Caño de Andrade MG, Almeida LM, Aoulaiche M, Caillat C, Jurczak M, Claeys C. On the variability of the low-frequency noise in UTBOX SOI nMOSFETs [Internet]. Microelectronics technology and devices, SBMicro. 2012 ;[citado 2024 nov. 06 ] Available from: https://doi.org/10.1149/04901.0051ecst -
Vancouver
Simoen E, Caño de Andrade MG, Almeida LM, Aoulaiche M, Caillat C, Jurczak M, Claeys C. On the variability of the low-frequency noise in UTBOX SOI nMOSFETs [Internet]. Microelectronics technology and devices, SBMicro. 2012 ;[citado 2024 nov. 06 ] Available from: https://doi.org/10.1149/04901.0051ecst
Informações sobre o DOI: 10.1149/04901.0051ecst (Fonte: oaDOI API)
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