Assessing the amount of the anatase and rutile phases of TiO2 by optical reflectance measurements (2021)
- Autor:
- Autor USP: ZANATTA, ANTONIO RICARDO - IFSC
- Unidade: IFSC
- DOI: 10.1016/j.rinp.2021.103864
- Subjects: FILMES FINOS; TERRAS RARAS; LUMINESCÊNCIA
- Keywords: Titanium dioxide (TiO2); Optical spectroscopy; UV-VIS reflectance
- Agências de fomento:
- Language: Inglês
- Imprenta:
- Source:
- Título: Results in Physics
- ISSN: 2211-3797
- Volume/Número/Paginação/Ano: v. 22, p. 103864-1-103864-3, Mar. 2021
- Este periódico é de acesso aberto
- Este artigo NÃO é de acesso aberto
-
ABNT
ZANATTA, Antonio Ricardo. Assessing the amount of the anatase and rutile phases of TiO2 by optical reflectance measurements. Results in Physics, v. 22, p. 103864-1-103864-3, 2021Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1016/j.rinp.2021.103864. Acesso em: 09 fev. 2026. -
APA
Zanatta, A. R. (2021). Assessing the amount of the anatase and rutile phases of TiO2 by optical reflectance measurements. Results in Physics, 22, 103864-1-103864-3. doi:10.1016/j.rinp.2021.103864 -
NLM
Zanatta AR. Assessing the amount of the anatase and rutile phases of TiO2 by optical reflectance measurements [Internet]. Results in Physics. 2021 ; 22 103864-1-103864-3.[citado 2026 fev. 09 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.rinp.2021.103864 -
Vancouver
Zanatta AR. Assessing the amount of the anatase and rutile phases of TiO2 by optical reflectance measurements [Internet]. Results in Physics. 2021 ; 22 103864-1-103864-3.[citado 2026 fev. 09 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.rinp.2021.103864 - Técnicas de espectroscopia óptica 1: espalhamento Raman
- Desenvolvimento de microcavidades ópticas com janelas de transmissão no visível e infravermelho próximo
- Infrared photoluminescence from Er-doped a-GaAsN alloys
- Propriedades estruturais de filmes finos de silicio amorfo hidrogenado tratados termicamente
- Growth, structure and morphology of Mn-containing amorphous silicon films deposited by sputtering
- Estudo da fase 'BETA'-Fe'Si IND.2' em filmes de silício amorfo dopado com ferro
- An alternative experimental approach to produce rare-earth-doped SiOx films
- Influence of the temperature and time of thermal annealing in the optical properties of a-SiN doped with rare-earth ions
- Optical characterization of Fe-doped amorphous SiNx films
- Filmes de silício amorfo dopados com níquel
Informações sobre o DOI: 10.1016/j.rinp.2021.103864 (Fonte: oaDOI API)
Download do texto completo
| Tipo | Nome | Link | |
|---|---|---|---|
| 3018172.pdf | Direct link |
How to cite
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
