Microstructural and fatigue crack growth characterization of the AA7050 T7451 Al alloy (2019)
- Authors:
- USP affiliated authors: BOSE FILHO, WALDEK WLADIMIR - EESC ; PEREIRA, GUALTER SILVA - EESC ; CAVALCANTE, THIAGO ROBERTO FELISARDO - EESC
- Unidade: EESC
- Subjects: AERONAVES; MATERIAIS; FADIGA DOS MATERIAIS; LIGAS METÁLICAS
- Language: Inglês
- Imprenta:
- Publisher: EESC/USP
- Publisher place: São Carlos, SP
- Date published: 2019
- Source:
- Título: Anais eletrônicos
- Conference titles: Simpósio em Ciência e Engenharia de Materiais - SICEM
-
ABNT
CAVALCANTE, Thiago Roberto Felisardo e PEREIRA, Gualter Silva e BOSE FILHO, Waldek Wladimir. Microstructural and fatigue crack growth characterization of the AA7050 T7451 Al alloy. 2019, Anais.. São Carlos, SP: EESC/USP, 2019. Disponível em: http://soac.eesc.usp.br/index.php/SICEM/sicem2019/paper/view/2502/1306. Acesso em: 30 dez. 2025. -
APA
Cavalcante, T. R. F., Pereira, G. S., & Bose Filho, W. W. (2019). Microstructural and fatigue crack growth characterization of the AA7050 T7451 Al alloy. In Anais eletrônicos. São Carlos, SP: EESC/USP. Recuperado de http://soac.eesc.usp.br/index.php/SICEM/sicem2019/paper/view/2502/1306 -
NLM
Cavalcante TRF, Pereira GS, Bose Filho WW. Microstructural and fatigue crack growth characterization of the AA7050 T7451 Al alloy [Internet]. Anais eletrônicos. 2019 ;[citado 2025 dez. 30 ] Available from: http://soac.eesc.usp.br/index.php/SICEM/sicem2019/paper/view/2502/1306 -
Vancouver
Cavalcante TRF, Pereira GS, Bose Filho WW. Microstructural and fatigue crack growth characterization of the AA7050 T7451 Al alloy [Internet]. Anais eletrônicos. 2019 ;[citado 2025 dez. 30 ] Available from: http://soac.eesc.usp.br/index.php/SICEM/sicem2019/paper/view/2502/1306 - Microstructural and scanning Kelvin probe force microscopy characterization of WE43 magnesium alloy
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| Tipo | Nome | Link | |
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