High-spin structure of 'ANTPOT. 37 Cl', intruder excitations, and the sd-fp shell gap (2009)
- Authors:
- USP affiliated authors: MEDINA, NILBERTO HEDER - IF ; ZILIO, SERGIO CARLOS - IFSC
- Unidades: IF; IFSC
- DOI: 10.1103/PhysRevC.80.034314
- Subjects: FÍSICA ATÔMICA; ENERGIA; SPIN; NÚCLEOS
- Language: Inglês
- Imprenta:
- Publisher place: College Park
- Date published: 2009
- Source:
- Título: Physical Review C
- ISSN: 2469-9985
- Volume/Número/Paginação/Ano: v. 80, n. 3, p. 034314-1-034314-12, Sept. 2009
- Este periódico é de assinatura
- Este artigo NÃO é de acesso aberto
- Cor do Acesso Aberto: closed
-
ABNT
BUJOR, M. Ionescu et al. High-spin structure of 'ANTPOT. 37 Cl', intruder excitations, and the sd-fp shell gap. Physical Review C, v. 80, n. 3, p. 034314-1-034314-12, 2009Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1103/PhysRevC.80.034314. Acesso em: 09 jan. 2026. -
APA
Bujor, M. I., Iordachescu, A., Lenzi, S. M., Napoli, D. R., Marginean, N., Medina, N. H., et al. (2009). High-spin structure of 'ANTPOT. 37 Cl', intruder excitations, and the sd-fp shell gap. Physical Review C, 80( 3), 034314-1-034314-12. doi:10.1103/PhysRevC.80.034314 -
NLM
Bujor MI, Iordachescu A, Lenzi SM, Napoli DR, Marginean N, Medina NH, Bazzacco D, Bucurescu D, Angelis G, Della Vedova F, Farnea E, Gadea A, Menegazzo R, Lunardi S, Ur CA, Zílio SC, Otsuka T, Utsuno Y. High-spin structure of 'ANTPOT. 37 Cl', intruder excitations, and the sd-fp shell gap [Internet]. Physical Review C. 2009 ; 80( 3): 034314-1-034314-12.[citado 2026 jan. 09 ] Available from: https://doi.org/10.1103/PhysRevC.80.034314 -
Vancouver
Bujor MI, Iordachescu A, Lenzi SM, Napoli DR, Marginean N, Medina NH, Bazzacco D, Bucurescu D, Angelis G, Della Vedova F, Farnea E, Gadea A, Menegazzo R, Lunardi S, Ur CA, Zílio SC, Otsuka T, Utsuno Y. High-spin structure of 'ANTPOT. 37 Cl', intruder excitations, and the sd-fp shell gap [Internet]. Physical Review C. 2009 ; 80( 3): 034314-1-034314-12.[citado 2026 jan. 09 ] Available from: https://doi.org/10.1103/PhysRevC.80.034314 - Assessment of Ionizing Radiation Hardness of a GaN Field-Effect Transistor
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Informações sobre o DOI: 10.1103/PhysRevC.80.034314 (Fonte: oaDOI API)
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