Measurement of two particle resolution in silicon drift detectors (1998)
- Authors:
- Autor USP: TAKAHASHI, JIRO - IF
- Unidade: IF
- DOI: 10.1109/23.682400
- Assunto: DETETORES
- Language: Inglês
- Imprenta:
- Source:
- Título: IEEE Transactions on Nuclear Science
- ISSN: 0018-9499
- Este artigo NÃO possui versão em acesso aberto
-
Status: Nenhuma versão em acesso aberto identificada -
ABNT
PANDEY, S U et al. Measurement of two particle resolution in silicon drift detectors. IEEE Transactions on Nuclear Science, 1998Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1109/23.682400. Acesso em: 16 mar. 2026. -
APA
Pandey, S. U., Bellwied, R., Bettenmueller, R., Caines, H., Chen, W., DiMassino, D., et al. (1998). Measurement of two particle resolution in silicon drift detectors. IEEE Transactions on Nuclear Science. doi:10.1109/23.682400 -
NLM
Pandey SU, Bellwied R, Bettenmueller R, Caines H, Chen W, DiMassino D, Dyke H, Hall J, Takahashi J. Measurement of two particle resolution in silicon drift detectors [Internet]. IEEE Transactions on Nuclear Science. 1998 ;[citado 2026 mar. 16 ] Available from: https://doi.org/10.1109/23.682400 -
Vancouver
Pandey SU, Bellwied R, Bettenmueller R, Caines H, Chen W, DiMassino D, Dyke H, Hall J, Takahashi J. Measurement of two particle resolution in silicon drift detectors [Internet]. IEEE Transactions on Nuclear Science. 1998 ;[citado 2026 mar. 16 ] Available from: https://doi.org/10.1109/23.682400 - Projeto e construção de uma estrutura acelerada de elétrons de onda contínua
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