Analysis of polyaniline films using atomic force microscopy (2001)
- Authors:
- USP affiliated authors: FARIA, ROBERTO MENDONCA - IFSC ; BALOGH, DEBORA TEREZIA - IFSC ; SILVA, MARCELO DE ASSUMPCAO PEREIRA DA - IFSC
- Unidade: IFSC
- Assunto: MATÉRIA CONDENSADA
- Language: Inglês
- Imprenta:
- Publisher: Universidade Federal de Pernambuco, State University of New York
- Publisher place: Recife
- Date published: 2001
- Source:
- Título: Technical digest
- Conference titles: International Conference on Frontiers of Polymers and Advanced Materials
-
ABNT
SILVA, Marcelo de Assumpção Pereira da et al. Analysis of polyaniline films using atomic force microscopy. 2001, Anais.. Recife: Universidade Federal de Pernambuco, State University of New York, 2001. . Acesso em: 24 jan. 2026. -
APA
Silva, M. de A. P. da, Balogh, D. T., Eiras, C., Kleinke, M. U., & Faria, R. M. (2001). Analysis of polyaniline films using atomic force microscopy. In Technical digest. Recife: Universidade Federal de Pernambuco, State University of New York. -
NLM
Silva M de AP da, Balogh DT, Eiras C, Kleinke MU, Faria RM. Analysis of polyaniline films using atomic force microscopy. Technical digest. 2001 ;[citado 2026 jan. 24 ] -
Vancouver
Silva M de AP da, Balogh DT, Eiras C, Kleinke MU, Faria RM. Analysis of polyaniline films using atomic force microscopy. Technical digest. 2001 ;[citado 2026 jan. 24 ] - Influência da temperatura de conversão nas propriedades fotocondutoras do PPV
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