Reflectivity modeling of Si-based amorphous superlattices (2000)
- Authors:
- Autor USP: FANTINI, MARCIA CARVALHO DE ABREU - IF
- Unidade: IF
- DOI: 10.1006/spmi.2000.0902
- Subjects: MATÉRIA CONDENSADA; QUÍMICA
- Language: Inglês
- Imprenta:
- Source:
- Título: Superlattices and Microstructures
- ISSN: 0749-6036
- Volume/Número/Paginação/Ano: v. 28, n. 3, p. 207-215, 2000
- Este periódico é de acesso aberto
- Este artigo NÃO é de acesso aberto
-
ABNT
ZEBALLOS-VELASQUEZ, E L e MONCADA L, H e FANTINI, Márcia Carvalho de Abreu. Reflectivity modeling of Si-based amorphous superlattices. Superlattices and Microstructures, v. 28, n. 3, p. 207-215, 2000Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1006/spmi.2000.0902. Acesso em: 25 jan. 2026. -
APA
Zeballos-Velasquez, E. L., Moncada L, H., & Fantini, M. C. de A. (2000). Reflectivity modeling of Si-based amorphous superlattices. Superlattices and Microstructures, 28( 3), 207-215. doi:10.1006/spmi.2000.0902 -
NLM
Zeballos-Velasquez EL, Moncada L H, Fantini MC de A. Reflectivity modeling of Si-based amorphous superlattices [Internet]. Superlattices and Microstructures. 2000 ; 28( 3): 207-215.[citado 2026 jan. 25 ] Available from: https://doi.org/10.1006/spmi.2000.0902 -
Vancouver
Zeballos-Velasquez EL, Moncada L H, Fantini MC de A. Reflectivity modeling of Si-based amorphous superlattices [Internet]. Superlattices and Microstructures. 2000 ; 28( 3): 207-215.[citado 2026 jan. 25 ] Available from: https://doi.org/10.1006/spmi.2000.0902 - Electrochromic nickel oxido thin filmes deposited under different sputtering conditions
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Informações sobre o DOI: 10.1006/spmi.2000.0902 (Fonte: oaDOI API)
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