Calibração de padrões metrológicos utilizando visão computacional (1999)
- Authors:
- Autor USP: MARTINS, FLAVIUS PORTELLA RIBAS - EP
- Unidade: EP
- Sigla do Departamento: PMC
- Subjects: ENGENHARIA MECÂNICA; METROLOGIA; VISÃO COMPUTACIONAL; INTELIGÊNCIA ARTIFICIAL
- Language: Português
- Abstract: Em processos metrológicos, tradicionalmente se ignora o efeito das escalas nominal e ordinal sobre a qualidade final das medidas. Tais escalas, por estarem ligadas respectivamente a reconhecimento e classificação de padrões, atividades desenvolvidas inconscientemente pelo operador humano, não despertam qualquer atenção no processo de medição, onde todos os esforços se concentram sobre a escala racional, descritora das medidas numéricas. Contudo, durante a automação de ensaios de calibração de microescalas de 1mm e microtexturas de peneiras de medição, a modelagem do conhecimento visual humano do operador e, portanto, dos processos de reconhecimento e classificação de padrões, mostrou-se crucial. Após se construir sete instrumentos metrológicos baseados em diferentes paradigmas de visão computacional, realizaram-se experimentos que, além de demonstrarem de forma inequívoca a influência das escalas nominal e ordinal sobre a qualidade das medidas finais, permitiram identificar, para os dois ensaios considerados, os modelos de medição e respectivos parâmetros que produziam medidas com maior repetibilidade e exatidão. Os dois modelos identificados, foram, então aplicados, à medição de microescalas e microtexturas de peneiras, obtendo -se, relativamente aos ensaios convencionais, diminuição da incerteza de até 5 vezes (0,2'MICROMETROS' para 0,04'MICROMETROS') no primeiro caso e de até 20 vezes (2'MICROMETROS' para0,1'MICROMETROS') no segundo. Já o ganho em eficiência foi ainda significativo: os instrumentos desenvolvidos para calibrar microescalas e microtexturas mostraram ser capazes de processar a mesma quantidade de informação, respectivamente, em intervalos de tempo 30 e 100 vezes inferiores ao requerido pelos processos metrológicos tradicionais.
- Imprenta:
- Data da defesa: 12.11.1999
-
ABNT
MARTINS, Flavius Portella Ribas. Calibração de padrões metrológicos utilizando visão computacional. 1999. Tese (Doutorado) – Universidade de São Paulo, São Paulo, 1999. Disponível em: https://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/3/3132/tde-16072024-113634/pt-br.php. Acesso em: 28 jan. 2026. -
APA
Martins, F. P. R. (1999). Calibração de padrões metrológicos utilizando visão computacional (Tese (Doutorado). Universidade de São Paulo, São Paulo. Recuperado de https://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/3/3132/tde-16072024-113634/pt-br.php -
NLM
Martins FPR. Calibração de padrões metrológicos utilizando visão computacional [Internet]. 1999 ;[citado 2026 jan. 28 ] Available from: https://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/3/3132/tde-16072024-113634/pt-br.php -
Vancouver
Martins FPR. Calibração de padrões metrológicos utilizando visão computacional [Internet]. 1999 ;[citado 2026 jan. 28 ] Available from: https://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/3/3132/tde-16072024-113634/pt-br.php - Aspectos fundamentais do projeto mecânico de um robo "6r"
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