O método de Rietveld para quantificação mineralógica por difração de raios-X (1998)
- Authors:
- Autor USP: KAHN, HENRIQUE - EP
- Unidade: EP
- Subjects: MICROSCOPIA ÓTICA; MINERALOGIA ÓPTICA; PESQUISA MINERAL
- Language: Português
- Imprenta:
- Publisher: Associação Brasileira de Metalurgia e Materiais
- Publisher place: São Paulo
- Date published: 1998
- Conference titles: Encontro Nacional de Tratamento de Minérios e Metalurgia Extrativa
-
ABNT
FRONZAGLIA, G C e KAHN, Henrique. O método de Rietveld para quantificação mineralógica por difração de raios-X. 1998, Anais.. São Paulo: Associação Brasileira de Metalurgia e Materiais, 1998. . Acesso em: 19 set. 2024. -
APA
Fronzaglia, G. C., & Kahn, H. (1998). O método de Rietveld para quantificação mineralógica por difração de raios-X. In . São Paulo: Associação Brasileira de Metalurgia e Materiais. -
NLM
Fronzaglia GC, Kahn H. O método de Rietveld para quantificação mineralógica por difração de raios-X. 1998 ;[citado 2024 set. 19 ] -
Vancouver
Fronzaglia GC, Kahn H. O método de Rietveld para quantificação mineralógica por difração de raios-X. 1998 ;[citado 2024 set. 19 ] - Caracterização tecnológica
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