Ellipsometric and quartz-crystal microbalance measurements during the eletrochemical growth of polyaniline films (1989)
- Authors:
- Autor USP: TICIANELLI, EDSON ANTONIO - IQSC
- Unidade: IQSC
- Assunto: ELETROQUÍMICA
- Language: Inglês
- Imprenta:
- Publisher: Electrochemical Society
- Publisher place: Washington
- Date published: 1989
- Source:
- Título do periódico: Abstracts
- Conference titles: Electrochemical Society Meeting
-
ABNT
RISHPON, J et al. Ellipsometric and quartz-crystal microbalance measurements during the eletrochemical growth of polyaniline films. 1989, Anais.. Washington: Electrochemical Society, 1989. . Acesso em: 20 set. 2024. -
APA
Rishpon, J., Redondo, A., Ticianelli, E. A., & Gottesfeld, S. (1989). Ellipsometric and quartz-crystal microbalance measurements during the eletrochemical growth of polyaniline films. In Abstracts. Washington: Electrochemical Society. -
NLM
Rishpon J, Redondo A, Ticianelli EA, Gottesfeld S. Ellipsometric and quartz-crystal microbalance measurements during the eletrochemical growth of polyaniline films. Abstracts. 1989 ;[citado 2024 set. 20 ] -
Vancouver
Rishpon J, Redondo A, Ticianelli EA, Gottesfeld S. Ellipsometric and quartz-crystal microbalance measurements during the eletrochemical growth of polyaniline films. Abstracts. 1989 ;[citado 2024 set. 20 ] - Reducao e transporte de oxigenio na interface platina / eletrolito polimerico solido
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