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Efeitos dos mecanismos de falha na confiabilidade de dispositivos semicondutores (1994)

  • Authors:
  • USP affiliated authors: LISBOA, MAURICIO OSCAR PEREZ - EP
  • Unidades: EP
  • Sigla do Departamento: PEE
  • Subjects: ENGENHARIA ELÉTRICA
  • Language: Português
  • Abstract: Neste trabalho e apresentado um estudo sobre os efeitos dos mecanismos de falha na confiabilidade de dispositivos semicondutores em microeletronica, dando-se enfase especial aos efeitos das descargas eletrostaticas em juncoes pn. E discutida a problematica da confiabilidade dos atuais circuitos integrados e a dificuldade em garantir as taxas de falhas correspondentes as exigencias dos circuitos de alta complexidade. Sao apresentados os principais mecanismos de falha dos circuitos integrados e seus efeitos na confiabilidade. Sao destacadas as tendencias da caracterizacao dos processos de fabricacao a nivel de lamina atraves de dispositivos de ensaios especificos. E comentada a dificuldade em se avaliar taxas de falhas da ordem de 10 fit tendo em vista o numero de funcoes a serem verificadas e justificada a caracterizacao mais rigorosa dos mecanismos envolvidos no funcionamento dos dispositivos. E apresentada uma visao geral do estado atual da confiabilidade, destacando-se a mudanca de filosofia no sentido de identificar os mecanismos de falha ao inves de medir os intervalos de tempo em que as falhas ocorrem. Mostram-se as atuais tendencias da engenharia da confiabilidade, assim como um resumo dos principais modelos e a metodologia de predicao de confiabilidade, considerando os efeitos da modulacao da taxa de falha.
  • Imprenta:
  • Data da defesa: 24.10.1994

  • How to cite
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    • ABNT

      PEREZ LISBOA, Mauricio Oscar; RAMÍREZ FERNANDEZ, Francisco Javier. Efeitos dos mecanismos de falha na confiabilidade de dispositivos semicondutores. 1994.Universidade de São Paulo, São Paulo, 1994.
    • APA

      Perez Lisboa, M. O., & Ramírez Fernandez, F. J. (1994). Efeitos dos mecanismos de falha na confiabilidade de dispositivos semicondutores. Universidade de São Paulo, São Paulo.
    • NLM

      Perez Lisboa MO, Ramírez Fernandez FJ. Efeitos dos mecanismos de falha na confiabilidade de dispositivos semicondutores. 1994 ;
    • Vancouver

      Perez Lisboa MO, Ramírez Fernandez FJ. Efeitos dos mecanismos de falha na confiabilidade de dispositivos semicondutores. 1994 ;


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