Efeitos dos mecanismos de falha na confiabilidade de dispositivos semicondutores (1994)
- Authors:
- Autor USP: LISBOA, MAURICIO OSCAR PEREZ - EP
- Unidade: EP
- Sigla do Departamento: PEE
- Subjects: SEMICONDUTORES; MICROELETRÔNICA
- Language: Português
- Abstract: Neste trabalho é apresentado um estudo sobre os efeitos dos mecanismos de falha na confiabilidade de dispositivos semicondutores em microeletrônica, dando-se ênfase especial aos efeitos das descargas eletrostáticas em junções pn. É discutida a problemática da confiabilidade dos atuais circuitos integrados e a dificuldade em garantir as taxas de falhas correspondentes as exigências dos circuitos de alta complexidade. São apresentados os principais mecanismos de falha dos circuitos integrados e seus efeitos na confiabilidade. São destacadas as tendências da caracterização dos processos de fabricação a nível de lâmina através de dispositivos de ensaios específicos. É comentada a dificuldade em se avaliar taxas de falhas da ordem de 10 fit tendo em vista o número de funções a serem verificadas e justificada a caracterização mais rigorosa dos mecanismos envolvidos no funcionamento dos dispositivos. É apresentada uma visão geral do estado atual da confiabilidade, destacando-se a mudança de filosofia no sentido de identificar os mecanismos de falha ao invés de medir os intervalos de tempo em que as falhas ocorrem. Mostram-se as atuais tendências da engenharia da confiabilidade, assim como um resumo dos principais modelos e a metodologia de predição de confiabilidade, considerando os efeitos da modulação da taxa de falha.
- Imprenta:
- Data da defesa: 24.10.1994
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ABNT
PEREZ LISBOA, Mauricio Oscar. Efeitos dos mecanismos de falha na confiabilidade de dispositivos semicondutores. 1994. Dissertação (Mestrado) – Universidade de São Paulo, São Paulo, 1994. Disponível em: https://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/3/3140/tde-28082024-133649/pt-br.php. Acesso em: 28 jan. 2026. -
APA
Perez Lisboa, M. O. (1994). Efeitos dos mecanismos de falha na confiabilidade de dispositivos semicondutores (Dissertação (Mestrado). Universidade de São Paulo, São Paulo. Recuperado de https://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/3/3140/tde-28082024-133649/pt-br.php -
NLM
Perez Lisboa MO. Efeitos dos mecanismos de falha na confiabilidade de dispositivos semicondutores [Internet]. 1994 ;[citado 2026 jan. 28 ] Available from: https://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/3/3140/tde-28082024-133649/pt-br.php -
Vancouver
Perez Lisboa MO. Efeitos dos mecanismos de falha na confiabilidade de dispositivos semicondutores [Internet]. 1994 ;[citado 2026 jan. 28 ] Available from: https://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/3/3140/tde-28082024-133649/pt-br.php
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