Backscattered electron microscopy technique enhancing stretch zone width imaging for initiation fracture toughness measurements (2003)
- Autores:
- Autores USP: BOSE FILHO, WALDEK WLADIMIR - EESC ; SPINELLI, DIRCEU - EESC
- Unidade: EESC
- DOI: 10.1016/j.matchar.2003.10.009
- Assuntos: AÇO DE ALTA RESISTÊNCIA; MICROSCOPIA ELETRÔNICA; TENACIDADE DOS MATERIAIS; TRATAMENTO TÉRMICO
- Idioma: Inglês
- Imprenta:
- Fonte:
- Título do periódico: Materials Characterization
- ISSN: 1044-5803
- Volume/Número/Paginação/Ano: v. 51, n. 2-3, p. 159-170, Oct. 2003
- Este periódico é de assinatura
- Este artigo NÃO é de acesso aberto
- Cor do Acesso Aberto: closed
-
ABNT
TARPANI, José Ricardo e BOSE FILHO, Waldek Wladimir e SPINELLI, Dirceu. Backscattered electron microscopy technique enhancing stretch zone width imaging for initiation fracture toughness measurements. Materials Characterization, v. 51, n. 2-3, p. 159-170, 2003Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1016/j.matchar.2003.10.009. Acesso em: 25 set. 2024. -
APA
Tarpani, J. R., Bose Filho, W. W., & Spinelli, D. (2003). Backscattered electron microscopy technique enhancing stretch zone width imaging for initiation fracture toughness measurements. Materials Characterization, 51( 2-3), 159-170. doi:10.1016/j.matchar.2003.10.009 -
NLM
Tarpani JR, Bose Filho WW, Spinelli D. Backscattered electron microscopy technique enhancing stretch zone width imaging for initiation fracture toughness measurements [Internet]. Materials Characterization. 2003 ; 51( 2-3): 159-170.[citado 2024 set. 25 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.matchar.2003.10.009 -
Vancouver
Tarpani JR, Bose Filho WW, Spinelli D. Backscattered electron microscopy technique enhancing stretch zone width imaging for initiation fracture toughness measurements [Internet]. Materials Characterization. 2003 ; 51( 2-3): 159-170.[citado 2024 set. 25 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.matchar.2003.10.009 - Influência da microestrutura na tenacidade à fratura de soldas de alta resistência e baixa liga [CD-ROM]
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Informações sobre o DOI: 10.1016/j.matchar.2003.10.009 (Fonte: oaDOI API)
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