Young modulus measurements of nanostructured palladium thin films (2003)
- Autores:
- Autores USP: SALVADORI, MARIA CECILIA BARBOSA DA SILVEIRA - IF ; CATTANI, MAURO SERGIO DORSA - IF
- Unidade: IF
- Assuntos: NANOTECNOLOGIA; FILMES FINOS
- Idioma: Inglês
- Imprenta:
- Fonte:
- Título do periódico: Proceedings
- Volume/Número/Paginação/Ano: Cambridge : NSTI, 2003
- Nome do evento: Nanotechnology Conference and Trade Show
-
ABNT
VAZ, A R e SALVADORI, Maria Cecília Barbosa da Silveira e CATTANI, Mauro Sérgio Dorsa. Young modulus measurements of nanostructured palladium thin films. 2003, Anais.. Cambridge: NSTI, 2003. Disponível em: http://publica-sbi.if.usp.br/PDFs/pd009.pdf. Acesso em: 19 set. 2024. -
APA
Vaz, A. R., Salvadori, M. C. B. da S., & Cattani, M. S. D. (2003). Young modulus measurements of nanostructured palladium thin films. In Proceedings. Cambridge: NSTI. Recuperado de http://publica-sbi.if.usp.br/PDFs/pd009.pdf -
NLM
Vaz AR, Salvadori MCB da S, Cattani MSD. Young modulus measurements of nanostructured palladium thin films [Internet]. Proceedings. 2003 ;[citado 2024 set. 19 ] Available from: http://publica-sbi.if.usp.br/PDFs/pd009.pdf -
Vancouver
Vaz AR, Salvadori MCB da S, Cattani MSD. Young modulus measurements of nanostructured palladium thin films [Internet]. Proceedings. 2003 ;[citado 2024 set. 19 ] Available from: http://publica-sbi.if.usp.br/PDFs/pd009.pdf - Critical exponent measurement of poor quality diamond films
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