TI - Low-frequency noise for different gate dielectrics on state-of-the-art UTBOX SOI nMOSFETs PY - 2013 AU - Martino, João Antonio AU - Santos, Sara Dereste dos AU - Simoen, Eddy AU - Strobe, V. AU - Cretu, B. AU - Routoure, J.-M. AU - Carin, R. AU - Aoulaiche, Marc AU - Veloso, Anabela AU - Claeys, Cor T2 - European Workshop on Silicon on Insulator Technology, Devices and Circuits J2 - EUROSOI 2013 PP - Paris PB - Institut Superieur d'Électronique ER -