TI - Danos de frio e modificações na parede celular PY - 2005 AU - Kluge, Ricardo Alfredo AU - Bron, I. U. AU - Appezzato-da-Glória, Beatriz AU - Jacomino, Ângelo Pedro T2 - Congresso Ibero-Americano de Tecnologia Pós-Colheita e Agroexportação J2 - Anais eletrônicos PP - Porto Alegre ER -