Confiabilidade de sistemas reparáveis com fragilidade gama não-central - Portela, Adriane Caroline Teixeira; Brito, Éder Silva de; Diniz, Carlos Alberto Ribeiro; Tomazella, Vera Lucia Damasceno; Silva, Paulo Henrique Ferreira da (Reunião Anual da Região Brasileira da Sociedade Internacional de Biometria - RBras, 2023)