Charge deposition analysis of heavy-ion-induced single-event burnout in low-voltage power VDMOSFET - Alberton, S. G.; Aguiar, Vitor^Ângelo Paulino de; Medina, Nilberto Heder; Added, Nemitala; Macchione, E L A; Menegasso, R.; Cesário, G. J.; Santos, Hellen Cristine; Scarduelli, Valdir Brunetti; Alcántara-Núñez, J. A.; Guazzelli, M. A.; Santos, R. B. B.; et al. (Microelectronics Reliability, 2022)