Destructive single-event effects in semiconductor devices - Alberton, Saulo Gabriel Pereira Nascimento; Medina, Nilberto Heder; Added, Nemitala; Menegasso, Ricardo; Macchione, Eduardo Luiz Augusto; Aguiar, Vitor Ângelo Paulino de; Escudeiro, Rafael; Ribas, Roberto Vicençotto; Silveira, Marcilei Aparecida Guazzelli da (Brazilian Meeting on Nuclear Physics, 2018)