Elemental thin film depth profiles by using self-consistent ion beam analysis – MultiSIMNRA: a new computational tool - Rodrigues, Cleber Lima; Rizzutto, Márcia de Almeida; Silva, Tiago Fiorini da; Mayer, B M; Added, Nemitala; Rizzutto, Márcia de Almeida; Tabacniks, Manfredo Harri (Encontro de Física, 2016)