Measurement of a semiconductors passivation layer thickness - Aguirre, Fernando Rodrigues; Silva, Tiago Fiorini da; Rodrigues, Cleber Lima; Aguiar, Vitor Ângelo Paulino de; Added, Nemitala; Tabacniks, Manfredo Harri; Medina, Nilberto Heder (Reunião de Trabalho sobre Física Nuclear no Brasil, 2014)