Rietveld analysis of 'Be IND.3''Al IND.2''(Si'O IND.3') IND.6' employing high-resolution neutron powder diffraction patterns - Parente, C. B. R.; Mazzocchi, V. L.; Mestnik Filho, José; Mascarenhas, Yvonne Primerano; Watanabe, Shigueo (Encontro de Física, 2011)