Contribuição ao estudo da morfologia da superfície e da interface do siliceto de titânio formado sobre Si(100) empregando a técnica de microscopia de força atômica (AFM) - Hasan, Nasser Mahmoud; Laganá, Armando Antonio Maria; Santos Filho, Sebastião Gomes dos (Boletim Técnico da Escola Politécnica da USP. Departamento de Engenharia Eletrônica, 1998)