@misc{miscc28022ab,
title   = {Método da Interferometria Eletrônica por padrão de Speckle como instrumento de análise de deformações na Implantologia},
author = {Sizo, S. R and Kanashiro, M. V. Y and Takeshita, E. K and Laganá, Dalva Cruz and Campos, Tomie Nakakuki de and Soga, D and Muramatsu, Mikiya and Mori, Matsuyoshi},
year = {2011},
booktitle   = {Reunião Anual da SBPqO}
}